3D光学式プロファイラー

ContourX-100 

粗さの測定のための合理化され、現実的なベンチトップ
ContourX-100

ハイライト

ContourX-100

ContourX-100光学プロフィロメータは、クラス最高の価格帯で正確で再現可能な非接触表面計測のための新しいベンチマークを設定します。小型フットプリントシステムは、数十年にわたる独自のブルーカーホワイトライト干渉法(WLI)イノベーションを取り入れた合理化されたパッケージで、妥協のない2D/3D高解像度測定機能を提供します。次世代の機能強化には、新しい5 MPカメラと、より大きなステッチ機能のための更新されたステージ、精密加工面、厚いフィルム、トライボロジーアプリケーションに対する利便性と柔軟性をさらに高める新しい測定モードUSIが含まれます。ContourX-100よりも優れた値を持つベンチトップシステムは見つかりません。

業界最高水準
Z分解能
倍率によらず、常に正確な測定が可能です。
高信頼
計測能力
計測機能を損なうことなく、合理的な設計を実現します。
簡単操作
ソフトウェア 直感的な操作画面
事前にプログラムされたフィルターおよび分析の広範なライブラリへの直観的なアクセスを提供します。

特長

機能

圧倒的な計測精度

WLI は、すべての目的に対して一定の垂直分解能を提供します。

ContourX-100プロファイラーは、40年以上にわたる独自の光学技術の革新と、非接触表面計測・特性評価・イメージングにおける業界のリーダーシップの集大成です。このシステムは、3D WLIと2Dイメージング技術を利用して、1回の撮影で複数の分析を行うことができます。ContourX-100は、0.05%から100%の反射率まで、あらゆる表面状況に対応します。

他にないパフォーマンスと解析力を提供

ContourX-100マニュアルステージ。

数千のカスタマイズされた分析機能と、ブルカーのシンプルでパワフルなVisionXpress™とVision64®のユーザーインターフェースを備えたContourX-100ベンチトップは、研究室や工場の生産性を高めるために最適化されています。ハードウェアとソフトウェアの組み合わせにより、ハイスループットの光学性能を実現し、信頼性の高い測定結果と高いパフォーマンスを提供します。

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