Material and Polymer Science image with Edge AFM

Science des matériaux et des polymères

En mettant de plus en plus d'efforts pour concevoir de façon rationnelle des matériaux composites hétérogènes et une vaste bibliothèque de chimistes polymères et des blocs de construction à l'échelle nanométrique à choisir, des méthodes de caractérisation sont nécessaires pour que les propriétés de la carte à la plus haute résolution spatiale. Les séparations microphasiques et la distribution d'additifs et de charges affectent les propriétés critiques en vrac dans les applications des matériaux structuraux au photovoltaïque organique. Pour répondre à ces besoins de caractérisation, Innova et Dimension Edge fournissent une gamme complète de modes nanomécaniques et électriques allant de l'imagerie de phase et de la spectroscopie de force à la microscopie à force piézo-réactive, à l'AFM conducteur et à la microscopie à force de sonde Kelvin, combinée à une conception pour une plus grande valeur spatiale Résolution, obtenant une résolution atomique avec facilité.


Nanoelectrical Measurement


La caractérisation électrique à l'échelle nanomécanique à base d'AFM est bien établie pour la R & D et la FA des semi-conducteurs, où la capacité de balayage peut fournir des cartes de densité de support active et l'AFM conducteur peut détecter la connectivité du périphérique et les caractéristiques de dégradation de l'oxyde de grille. Les propriétés électriques à l'échelle nanométrique jouent également un rôle clé dans les domaines de recherche allant du graphène aux polymères conducteurs où les modes électriques AFM les plus importants sont l'AFM conducteur, la microscopie à force de sonde Kelvin (KPFM) et la microscopie à force électrique (EFM). Innova et Dimension Edge de Bruker offrent une gamme complète de modes électriques, tirant parti du LiftMode breveté de Bruker pour permettre une cartographie de gradient de champ électrique avec EFM, une cartographie de fonction KPFM plus sensible et une cartographie de conductivité sans artefact avec AFM conducteur Dark-Lift.

Nanoelectrical imaging with Edge AFM
Electrochemical AFM image

Électrochimie


L'AFM électrochimique (ECAFM) permet une cartographie in situ des changements de surface tandis que l'échantillon est immergé dans l'électrolyte et sous contrôle électrochimique. Mis à part les études fondamentales en électrochimie, la corrosion et le développement de la batterie Li se distinguent par les applications de l'ECAFM. Une large compatibilité chimique avec des solutions aqueuses ainsi que des solvants de carbonate dans le cas des batteries Li est essentielle, ce qui nécessite l'utilisation de Teflon / Kel-F comme matériau cellulaire, des cellules en forme de coupe suffisamment profondes et étanches et la rétention des performances d'imagerie dans le liquide. Les nouvelles cellules d'électrochimie Dimension Icon et Edge de la deuxième génération de Bruker ont été conçues spécifiquement pour résoudre ces problèmes et fournir des solutions clé en main pour la recherche de batteries Li.


Substrat saphir à motif


Le substrat Sapphire Patterned (PSS) est une technique utilisée pour les fabricants de LED pour améliorer la production de lumière et l'efficacité globale de l'appareil. Un PSS est généralement une plaquette de saphir dans laquelle un motif périodique a été gravé. La forme des motifs varie mais est une structure conique, hémisphérique, pyramidale ou autre similaire. Ces structures sont utilisées pour changer l'angle des photons sortants réduisant la réflexion interne totale et augmentant ainsi l'efficacité. L'Edge-PSS AFM fournit la métrologie nécessaire pour contrôler le processus de fabrication du PSS, y compris la hauteur, la largeur et les mesures des angles, tout en fournissant un profil 3-D complet. Le Edge-PSS est prêt à répondre aux besoins des fournisseurs de PSS et des fabricants de LED, car les dimensions réduisent l'efficacité du produit.




Patterned Sapphire Substrate AFM Image
Patterned Sapphire Substrate AFM image