Les profileurs à stylet Dektak® de Bruker sont l'aboutissement de plus de cinq décennies d'avancées technologiques brevetées. Ils fournissent des mesures répétables, fiables et précises, allant des mesures traditionnelles de hauteur de pas et de caractérisation de rugosité de surface 2D jusqu'à la cartographie 3D avancée et aux analyses de contraintes de film. Les profileurs de surface Dektak ont été largement reconnus comme la référence en matière de mesure d'épaisseur, de contrainte, de rugosité de surface et de forme pour les films minces dans divers domaines d'application, de la recherche universitaire jusqu'au contrôle du processus des semi-conducteurs.
La marque Dektak est fière d'avoir créé le premier profileur destiné aux mesures de films minces, le premier profileur à microprocesseur, le premier profileur doté de fonctionnalités 3D, le premier profileur basé sur PC ainsi que le premier profileur automatisé sur 300 mm. Aujourd'hui, DektakXT poursuit cet héritage de " pionnier " en étant le premier profileur à stylet à mettre en œuvre une conception à arche unique, à proposer un changement de stylet facile et fiable, et à exploiter une architecture de traitement parallèle 64 bits pour obtenir des mesures et une efficacité opérationnelle optimales.
Stylus profilometers trace a low force, sharp tip across the surface to record height as a function of position. From that line trace, surface roughness, step height, waviness, and form can be calculated. Modern systems also support recipe based workflows for these measurements.
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Though the native measurement for stylus is a line profile, 3D maps are built by stitching multiple line traces across an area, providing areal visualization and statistics.
Stylus can be a good choice when sample surfaces are transparent or non-reflective surfaces, and when long scan lengths or large vertical ranges are needed. It is also often the most economical path to traceable roughness and step‑height metrology for growing labs. Optical methods often deliver faster 3D areal maps; AFM excels at ultra‑high lateral resolution over small fields of view.
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Stylus profilers are typically used to measure Ra, Rq, Rz, step height, waviness, and form. Parameters like Ra, Rq, and Rz come from the filtered profile, while step height, waviness, and form are computed from leveled, standardized traces. Proper cutoff selection and leveling are essential so results are comparable across sites and operators.
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For step height, typical vertical repeatability is on the order of a few angstroms to ~1 nm under controlled conditions, with sub‑nanometer repeatability possible on optimized setups and certified standards. Some key variables affecting accuracy and repeatability are tip condition/geometry, applied force, sample fixturing, vibration/thermal stability, and analysis procedures.
Typically, in fact our acceptance criteria is on a 100nm step height with 4 angstrom repeatability, which is about a .4% repeatability.
Benchtop systems can accommodate small coupons up to 8-inch full wafers, while production models (like DektakXTL) support up to 12-inch wafers and panels up to 350mm square; including encoded stages and multi‑site automation. Exact limits depend on the model, stage travel, and accessories.
Sample thickness can be up to 50mm. Geometries are typically flat. Wafers held down with vacuum chuck to limit contact of wafer surface.
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Lateral resolution is limited by tip radius, so choosing an appropriate tip is important. Steep slopes and narrow features can be misrepresented if the tip cannot access them fully. Very soft or tacky films may require minimal force and specific tips; in some cases, an optical profilometer may bebetter suited.
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Bruker s'associe à ses clients pour résoudre des problèmes qui touchent des applications dans le monde entier. Nous développons des technologies de nouvelle génération et aidons nos clients à choisir le système et les accessoires appropriés. Ce partenariat se poursuit par des formations et un service étendu, longtemps après la vente des outils.
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