브루커의 Dektak® 스타일러스 프로파일러는 50년 이상의 독점 기술의 산물입니다. 이 프로파일러는 기존의2D 조도 표면 특성화, 단차 측정, 고급 3D 매핑 및 박막 응력 분석 등 반복 가능하고 신뢰할 수 있으며 정확한 측정을 제공합니다. Dektak 표면 프로파일러는 학술 연구에서 반도체 공정 제어 등 다양한 응용 분야에서 박막 두께, 응력, 표면 조도와 형태 측정을 위한 표준으로 널리 인정받고 있습니다.
덱탁은 박막 측정을 위한 최초의 프로파일러, 최초의 마이크로프로세서 기반 프로파일러, 3D 기능을 갖춘 최초의 프로파일러, 최초의 PC 기반 프로파일러 및 최초의 자동화된 300mm 프로파일러를 자랑합니다. 현재 덱탁XT는 단일 아치형 설계를 구현한 최초의 스타일러스 프로파일러이며, 쉽고 안정적인 스타일러스 교환을 통합한 최초이자, 최적의 측정 및 작동 효율성을 달성하기 위해 64비트 병렬 처리 아키텍처를 활용하는 최초의 스타일러스 프로파일러로서 “firsts"를 개척해 왔습니다.
당사의 웨비나는 모범 사례를 다루고, 신제품을 소개하고, 까다로운 질문에 대한 빠른 솔루션을 제공하고, 새로운 애플리케이션, 모드 또는 기술에 대한 아이디어를 제공합니다.
Bruker partners with our customers to solve real-world application issues. We develop next-generation technologies and help customers select the right system and accessories. This partnership continues through training and extended service, long after the tools are sold.
Our highly trained team of support engineers, application scientists and subject-matter experts are wholly dedicated to maximizing your productivity with system service and upgrades, as well as application support and training.