ブルカーのスタイラスプロファイラー”Dektakシリーズ”の特徴は、4Å以下という段差測定再現性を実現する革新的なデザインに表れています。この大きな進歩は、Dektakの50年以上に渡る技術革新と産業的なリーダーシップにより成し遂げられました。これまでの50年に渡るDektakの世界に 先駆ける技術を組み合わせることで、Dektak シリーズはR&DからQCにおけるプロセス開発の測定管理を可能にする究極の測定パフォーマンス、使いやすさ、測定機としての偉大なる価値を提供します。11世代に渡る科学技術のブレイクスルーを盛り込んだDektakシリーズは、マイクロエレクトロニクス、半導体、太陽光パネル、高輝度LED、医療系技術、有機向き材料科学分野において重要となるナノメートルレベルの表面形状測定を可能にします。
ブルカー製スタイラスプロファイラ”DektakXT”の特徴は、4Å以下という段差測定再現性を実現する革新的なデザインに表れています。この大きな進歩は、Dektakの50年以上に渡る技術革新と産業的なリーダーシップにより成し遂げられました。これまでの50年に渡るDektakの世界に 先駆ける技術を組み合わせることで、DektakXTはR&DからQCにおけるプロセス開発の測定管理を可能にする究極の測定パフォーマンス、使いやすさ、測定機としての偉大なる価値を提供します。10世代に渡る科学技術のブレイクスルーを盛り込んだDektakXTは、マイクロエレクトロニクス、半導体、太陽光パネル、高輝度LED、医療系技術、有機向き材料科学分野において重要となるナノメートルレベルの表面形状測定を可能にします。
Stylus profilometers trace a low force, sharp tip across the surface to record height as a function of position. From that line trace, surface roughness, step height, waviness, and form can be calculated. Modern systems also support recipe based workflows for these measurements.
LEARN MORE:
Though the native measurement for stylus is a line profile, 3D maps are built by stitching multiple line traces across an area, providing areal visualization and statistics.
製品導入の検討や研究者の皆様の課題解決に直結する、最新のアプリケーション事例、測定モード、測定技術、分析手法のヒントやアイデアなど、様々なコンテンツを提供します。
どのようなお手伝いが必要ですか?
ブルカーはお客様と協力し、実世界のアプリケーション課題を解決します。次世代技術を開発し、お客様が適切なシステムとアクセサリーを選択できるようサポートします。このパートナーシップは、機器販売後もトレーニングや延長サービスを通じて継続します。
高度な訓練を受けたサポートエンジニア、アプリケーションサイエンティスト、専門知識を持つエキスパートからなるチームが、システムサービスやアップグレード、アプリケーションサポート、トレーニングを通じて、お客様の生産性最大化に全力を尽くします。