FastScan Pro Header mockup 1154x400

Semi-conducteur automatisé

FastScan Pro Wafer v1


Caractérisation de la métrologie et de la défection des défauts nuisibles


Caractérisation de l'appareil électrique du nœud secondaire de 10 nanomètres et isolation des pannes


Mesure exacte de la hauteur des pas et de la métrologie de profondeur

 

HBLED et solaire

Dimension FastScan Pro LED v1

Conception automatique de profondeur et de forme de saphir à motif LED HB-LED (PSS)

Précision HB-LED rugosité du substrat

Caractérisation électrique de HB-LED et de matériaux solaires

Stockage de données

FastScan Pro Data Storage v1
La métrologie de glissement la plus précise, la plus haute résolution et à haut débit, basée sur la production

Caractérisation de la rugosité et de l'analyse des défauts des supports avec une résolution exceptionnelle

Caractérisation de l'analyse des pannes électriques et magnétiques pour la plaquette, les supports et le curseur

Polymères et films minces

FastScan Pro Polymers and THins Films v1

Mesures topographiques à haut débit pour le contrôle de la qualité

Topographie simultanée et cartographie des propriétés mécaniques

Convient à une large gamme de copolymères blocs

Fabrication MEMS

FastScan Pro MEMS v1
Mesure automatisée de la rugosité, de la hauteur et de la forme


Caractérisation mécanique des propriétés (déplacement, contrainte) des actionneurs

Caractérisation électrique des dispositifs MEMS