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Brochures et fiches techniques

• Dimension FastScan Pro - Brochure 2.5MB

Le Dimension FastScan Pro ™ avec PeakForce Tapping® délivre la plus haute vitesse et les performances du microscope à force atomique (AFM) disponible aujourd'hui. Conçu spécialement pour les environnements de production à haut volume, FastScan Pro permet des mesures automatisées ou semi automatisées tout en assurant la plus grande facilité d'utilisation et le coût par mesure le plus bas pour le contrôle de la qualité, l'assurance de la qualité et l'analyse des pannes.

Le PeakForce Tapping® exclusif de Bruker est la percée scientifique la plus importante dans la technologie du microscope à force atomique (AFM) depuis l'introduction de TappingMode ™. Il fournit une image haute résolution sans précédent, étend les mesures AFM dans une gamme d'échantillons qui n'ont pas déjà été accédés et permet uniquement une cartographie simultanée de la propriété à l'échelle nanométrique.

• Logiciel AutoMet AFM - Fiche technique  1.6MB

Le logiciel AutoMET ™ de Bruker apporte des mesures AFM volumineuses et précises à des environnements de production exigeants. Disponible pour les systèmes Dimension FastScan® et Dimension Icon®, AutoMET permet uniquement la combinaison de l'imagerie AFM haute résolution avec une métrologie rapide et automatisée.