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Littérature liée

Brochures et fiches techniques

•  Dimension FastScan Atomic Force Microscope - Brochure  3.3 MB
Le microscope à force atomique Dimension FastScan ™ offre une vitesse d'imagerie extrême sans sacrifier la résolution et les performances légendaires de Dimension Icon®. Cette innovation innovante permet un temps radicalement plus rapide pour les données publiables pour tous les niveaux d'expertise AFM.

• PeakForce Tapping - Brochure 2.7MB
Le PeakForce Tapping® exclusif de Bruker est la percée scientifique la plus importante dans la technologie du microscope à force atomique (AFM) depuis l'introduction de TappingMode ™. Il fournit une image haute résolution sans précédent, étend les mesures AFM dans une gamme d'échantillons qui n'ont pas déjà été accédés et permet uniquement une cartographie simultanée de la propriété à l'échelle nanométrique.

•  PeakForce SECM - Brochure 2.2MB
Le mode exclusif PeakForce SECM ™ de Bruker est la première solution commerciale complète mondiale pour la microscopie électrochimique à balayage (SECM) basée sur AFM avec une résolution spatiale inférieure à 100 nanomètres.

• Logiciel AutoMet AFM - Fiche technique  1.6MB
Le logiciel AutoMET ™ de Bruker apporte des mesures AFM volumineuses et précises à des environnements de production exigeants. Disponible pour les systèmes Dimension FastScan® et Dimension Icon®, AutoMET permet uniquement la combinaison de l'imagerie AFM haute résolution avec une métrologie rapide et automatisée.

Notes d'application

Quantitative Measurements of Elastic and Viscoelastic Properties with FASTForce Volume CR - AN148 3.3MB
Contact resonance captures both elastic and viscoelastic properties including storage modulus, loss modulus, and loss tangent for materials from soft polymers to metals. FASTForce Volume CR uniquely exploits AC force volume mapping to offer over 15 different mechanical data channels including adhesion without tip wear or sample damage.

An Introduction to AFM-Based Scanning Electrochemical Microscopy: PeakForce SECM - AN147 1.6MB
Cette note d'application traite de PeakForce SECM ™, la première solution commerciale complète au monde pour la microscopie électrochimique à balayage à base d'AFM. Avec une résolution spatiale inférieure à 100 nm, PeakForce SECM fournit une capture simultanée de cartes topographiques, électrochimiques, électriques et mécaniques avec une résolution latérale à l'échelle nanométrique.

Nanoscale Mapping of Permittivity and Conductivity with Scanning Microwave Impedance Microscopy - AN146 1.9MB
This application note provides an introduction of sMIM and its integration with Bruker’s versatile AFM Dimension AFMs.

Dynamique de dépistage de l'enquête Microscope à grande vitesse de la force atomique 6,2 Mo
L'équipe de développement de Bruker's Dimension FastScan ™ a travaillé avec de nombreux leaders de l'AFM pour créer une AFM qui idéalement marraine des performances haute résolution avec une imagerie rapide.

Introduction to Bruker's ScanAsyst and PeakForce Tapping Atomic Force Microscope Technology - AN133 4.9 MB
PeakForce Tapping and ScanAsyst are two Atomic Force Microsocope (AFM) imaging techniques for Bruker's atomic force microscopes. In this application note we will explain the underlying physical background, fit PFT into the framework of existing AFM modes, and show the benefits of these new modes through application examples.

Documents de soutien

• Worldwide Service and Support - Brochure 2.7MB
Votre instrumentation de métrologie est un investissement majeur qui est essentiel à l'exploitation et à la réussite de votre entreprise. Dans le climat concurrentiel d'aujourd'hui, il est plus important que jamais d'étendre la fonctionnalité et les performances maximales de vos équipements de métrologie au-delà de l'expiration de votre garantie d'usine. Les programmes de soutien de Bruker vous aideront à protéger votre investissement et que vous et votre instrument Bruker fonctionnent toujours à des performances optimales.

Publications et vidéos

Visite du produit
Obtenez une visite guidée de Dimension FastScan auprès du responsable européen du laboratoire d'applications de Bruker, Samuel Lesko. Cette courte interview offre une démonstration rapprochée de l'instrument.
Courtoisie de www.physicsworld.com