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Amélioration de l'automatisation à l'échelle nanométrique

Le nouveau logiciel AutoMET ™ de Bruker permet de combiner l'imagerie AFM haute résolution avec une métrologie rapide et automatisée. Il offre une facilité d'utilisation et une adaptabilité exceptionnelles pour les mesures critiques à la qualité dans les applications de mesure à haut volume. AutoMET comprend un environnement intuitif et simple d'écriture de recette qui rend extrêmement facile de réduire les routines de mesure complexes.

Offrant des performances élevées sur tout échantillon AFM

  • Les scanners Icon et FastScan en boucle fermée maintiennent le bruit vertical en dessous de 30h et 40h respectivement, ainsi que de haute précision avec une dérive ultra-basse
  • Échantillon du subnanomètre à des centaines de nanomètres de hauteur sans perte de résolution

 

Que ce soit à l'aide du scanner Icon avec un bruit ultra-faible et une grande précision, ou en utilisant le scanner FastScan pour des taux d'analyse élevés, le système Dimension FastScan élargira les capacités de votre laboratoire au-delà de tout autre instrument que vous pouvez acheter.

Dimension Fast Scan system components
Dimension FastScan System Configuration:
(1) Acoustic and Vibration Isolation Enclosure; (2) Scanners; (3) Ultra-Stable High-Resonance Microscope Base; (4) 30” Monitor and FastScan NanoScope Software; (5) Computer; (6) NanoScope V, Stage Controller and H