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Co-localisé AFM-Raman

Co-located AFM and Raman microscopy data can provide highly complementary information on many materials and polymer samples.

Les données de microscopie AFM et Raman localisées peuvent fournir des informations hautement complémentaires sur de nombreux matériaux et échantillons de polymères. L'AFM excelle dans les informations quantitatives quantitatives quantitatives en nanomécanique et électrique; Sur des échantillons hétérogènes de matière fragile ou molle, c'est particulièrement le cas avec PeakForce QNM, PeakForce TUNA et PeakForce KPFM. La spectroscopie Raman fournit des informations et des cartographies chimiques et cristallographiques exemptes d'étiquettes avec une résolution spatiale limitée par diffraction. La corrélation des deux techniques relie la chimie à la fonction, montrant par exemple Quel composant est plus conducteur dans un dispositif, ou a une rigidité plus élevée dans un matériau de structure.

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Icon-Raman-Nanochemical-mapping

Cartographie Nano-chimique

Correlated AFM and Raman maps not only provide complementary information as outlined in the section on ‘Co-located AFM-Raman’.

Les cartes AFM et Raman corrélées fournissent non seulement des informations complémentaires telles qu'elles sont décrites dans la section «Co-localisé AFM-Raman». Dans de nombreux échantillons de polymères hétérogènes, la corrélation des deux types de données est très élevée, car la chimie peut régir la propriété, ce qui suggère qu'une fois que la carte de Raman a identifié les chimies des microphases observées, la carte de propriétés AFM peut être utilisée comme plus élevée Carte de chimie de résolution, en particulier lors de l'utilisation de PeakForce QNM, qui permet des cartes de propriétés spatiales de résolution, sans ambiguïté, quantitatives et hautement reproductibles. Dans ce cas, la combinaison de la spectroscopie Raman avec AFM peut

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Science des matériaux et des polymères

Bruker AFMs are widely used in the fields of material and polymer science. As a technique, AFM is uniquely well suited for investigating the nanoscale properties of nanocomposite materials.

Les AMF de Bruker sont largement utilisés dans les domaines de la science des matériaux et des polymères. En tant que technique, AFM est particulièrement bien adapté pour étudier les propriétés à l'échelle nanométrique des matériaux nanocomposés. Le mode PeakForce QNM exclusif de Bruker permet un cartographie rapide et haute résolution de propriétés nanomécaniques, y compris un module sur une large gamme (kPa à GPa). La plupart des AFM de Bruker sont également disponibles avec des options de chauffage et de refroidissement à haute température, qui sont utilisées, par exemple, pour étudier les transitions de phase polymère. Une gamme complète d'autres techniques, y compris l'analyse thermique, la cartographie de la propriété électrique (courant et capacité), et la nanoindentation sont également disponibles.

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Quantitative NanoMechanical and NanoElectrical

Bruker’s exclusive PeakForce QNM mode enables fast, high-resolution mapping of nanomechanical properties including modulus over a wide range (kPa to GPa).

Le mode PeakForce QNM exclusif de Bruker permet un cartographie rapide et haute résolution de propriétés nanomécaniques, y compris un module sur une large gamme (kPa à GPa). Les modules d'application modulaires uniques permettent diverses mesures électriques, y compris le cartographie de courant (AFM conducteur), le cartographie de faible courant ("Tunneling AFM", TUNA) et les mesures de courant à grande échelle (Scanning Spreading Resistance, SSRM). La technologie exclusive PeakForce Tapping de Bruker a permis le mode révolutionnaire PeakForce TUNA, qui combine le contrôle de force et la cartographie des propriétés nanomécaniques supérieures de PeakForce QNM avec la haute sensibilité au courant de TUNA. Une nouvelle résolution plus élevée, un mappage de potentiel de surface de sensibilité plus élevé est maintenant possible avec PeakForce KPFM.

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