AFM-Raman-Colocated

Co-localisé AFM-Raman

La nature hautement complémentaire de l'information fournie par AFM et la spectroscopie Raman rend leur combinaison particulièrement intrigante.

La nature hautement complémentaire de l'information fournie par AFM et la spectroscopie Raman rend leur combinaison particulièrement intrigante. L'AFM excelle à fournir une structure de surface à résolution spatiale (même une résolution atomique), des informations nanomécaniques (adhérence et rigidité), ainsi que des cartes de propriétés électriques à l'échelle nanométrique, y compris les gradients de champs électriques, la fonction de travail, la conductivité avec des modes tels que EFM, KPFM, et AFM conducteur. D'autre part, la signature spectroscopique vibratoire révélée dans un spectre Raman fournit un moyen de détecter la présence et l'orientation des liaisons chimiques et donc créer des cartes chimiques. Les études AFM-Raman co-localisées peuvent donc fournir des informations corrélées pour identifier les relations chimique-propriété à l'échelle nanométrique dans des échantillons chimiquement hétérogènes allant de l'inorganique aux polymères.

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AFM-Raman-TERS-research

TERS Research

Comme il détient la promesse de la cartographie chimique à l'échelle nanométrique, le développement de la spectroscopie Raman améliorée (TERS) est une zone de recherche active.

Comme il détient la promesse de la cartographie chimique à l'échelle nanométrique, le développement de la spectroscopie Raman améliorée (TERS) est une zone de recherche active. Basé sur l'utilisation d'une structure plasmonique comme antenne à champ proche, TERS nécessite des conseils spécialisés. Les petits signaux générés par les petits volumes d'échantillonnage nécessitent un accès optique AFM optimisé pour un couplage à champ proche (accès latéral pour échantillons opaques, accès au bas pour des échantillons transparents) ainsi qu'une plate-forme AFM ultra stable pour tenir compte des temps d'intégration Raman et préserver la pointe. Conçu pour une intégration optimisée avec les principaux systèmes Raman, les IRM AFM de Bruker ont été utilisés pour les études TERS sur les nanoscristals, les biomolécules et les films moléculaires fins.

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AFM-Raman-carbon

Carbon Allotropes élémentaires

Depuis la découverte des nanotubes de carbone et du graphène, leurs propriétés électriques inhabituelles et leur structure électronique ont capturé l'imagination des chercheurs.

Depuis la découverte des nanotubes de carbone et du graphène, leurs propriétés électriques inhabituelles et leur structure électronique ont capturé l'imagination des chercheurs. Les études AFM-Raman permettent d'aborder les nanotubes de carbone individuels et les flocons de graphène, en identifiant précisément les paramètres structurels tels que le nombre de couches de graphène. Ils permettent la corrélation de la structure électronique du graphène révélée dans les bandes Raman G (graphite) et D / 2D (défectuosité) avec des variations mécaniques à l'échelle nanométrique (p. Ex. Rigidité) et électriques (p. Ex. Fonctionnement) - aborder les questions d'accessibilité des propriétés pour les applications de l'appareil et la sensibilité à Environnement électrique et chimique pertinent également pour les applications potentielles de détection.

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Recherche sur les matériaux

Lorsque la structure à l'échelle nanométrique joue un rôle clé dans le rôle des propriétés matérielles pertinentes, la caractérisation la plus puissante peut être une cartographie combinée de la structure à l'échelle nanométrique, des propriétés et de la chimie, en corrélant l'information fournie par la spectroscopie Raman confocal, la spectroscopie Raman (TERS) et avancée Modes AFM tels que la microscopie à force de sonde Kelvin (KPFM). 

Lorsque la structure à l'échelle nanométrique joue un rôle clé dans le rôle des propriétés matérielles pertinentes, la caractérisation la plus puissante peut être une cartographie combinée de la structure à l'échelle nanométrique, des propriétés et de la chimie, en corrélant l'information fournie par la spectroscopie Raman confocal, la spectroscopie Raman (TERS) et avancée Modes AFM tels que la microscopie à force de sonde Kelvin (KPFM). Les applications de recherche de matériaux de ces études corrélées incluent des études sur la structure de la microphase dans les polymères avec des applications finales allant du matériel structurel aux OPV de l'hétérojonction en masse, la relation de la structure électronique et des propriétés aux défauts et l'environnement chimique dans le graphène, la cristallographie et les propriétés optiques des nanocristaux et minces Couches moléculaires aux interfaces.

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