Littérature liée

Brochures et fiches techniques

• Innova IRIS AFM Raman System - Data sheet 732kB
The Bruker Innova AFM delivers accurate, high-resolution imaging and a wide range of functionality for the physical, life, and material sciences. 

• AFM-Raman - Brochure 2.7MB
Bruker has combined the most advanced AFM and Raman techniques into powerful, seamlessly integrated research solutions.

 

Innova SPM - Brochure 1.4MB
Innova-IRIS builds on leading AFM performance to provide the best TERS-enabled AFM-Raman integration available.

 

• Worldwide Service and Support - Brochure 2.7MB
Our highly trained team of support engineers, application scientists, and subject-matter experts are wholly dedicated to maximizing your productivity with system service and upgrades, as well as application support and training across a very wide range of disciplines.

Des publications

• "Atomic Force Microscopy with Raman and Tip-Enhanced Raman
Spectroscopy
,"
Microscopy Today, Nov 2012 (p.22-27) 
Authors: Stefan B. Kaemmer, Ton Ruiter, and Bede Pittenger

Notes d'application

Avances en force atomique combinée et Raman - AN136 5.1MB
Cette note d'application correspond à la fois aux informations complémentaires obtenues lors de la combinaison de la spectroscopie AFM et Raman et de la manière dont un chercheur ayant accès à un système combiné peut bénéficier des informations supplémentaires disponibles.

AFM et Raman TERS - Imagerie corrélée et pointe améliorée Raman Scattering 2.8MB
L'instrumentation AFM et Raman co-localisée permet aux chercheurs d'interroger des échantillons à l'aide de techniques de sonde de balayage et de spectroscopie optique, en fournissant des informations détaillées sur les propriétés à l'échelle nanométrique et la composition. Les expériences AFM-Raman limitées par la diffraction sont simples, de même que l'interprétation des données. TERS fournit des informations chimiques sur l'échelle nanométrique. Les expériences de TERS sont simples à exécuter mais peuvent nécessiter une attention particulière à l'interaction de l'échantillon-pointe dans le champ proche optique pour l'interprétation des données.