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Inspection des couches minces - Assurer le rendement élevé

Dektak XT Hybrid Circuit

Une surveillance étroite du dépôt et de l'uniformité de la vitesse de gravure, ainsi qu'une contrainte du film mince, dans la fabrication de semi-conducteurs peuvent permettre d'économiser du temps et de l'argent. La non-uniformité d'une couche de film ou trop de stress peut entraîner un mauvais rendement et une performance inférieure du produit final. Dektak XT offre la possibilité de configurer et d'exécuter rapidement et facilement des routines de mesure multisites automatisées pour vérifier l'épaisseur précise des films minces à la surface de la plaquette, jusqu'à l'échelle nanométrique. La répétabilité inégalée du Dektak XT donne aux ingénieurs les mesures précises de l'épaisseur du film et de la contrainte dont ils ont besoin pour ajuster avec précision les processus de gravure et de dépôt afin d'améliorer les rendements.

Analyse de traces solaires - Réduction des coûts de fabrication

Sur le marché du solaire, Dektak s'impose comme la solution privilégiée pour mesurer les dimensions critiques des traces d'argent (rues), les lignes conductrices que l'on trouve sur les panneaux solaires monocristallins et polycristallins. La hauteur, la largeur et la continuité des traces d'argent sont en corrélation avec la capacité d'une cellule solaire à conduire l'énergie. L'état de production souhaité consiste à appliquer juste assez de pâte d'argent pour une conductivité optimale sans gaspiller d'argent coûteux. Le Dektak XT utilise une routine d'analyse de trace qui rapporte les dimensions critiques d'une rue pour vérifier que le matériau suffisant pour la conductivité est présent. Les recettes de Data Analyzer et les fonctions d'automatisation de Vision64 ont une influence sur l'automatisation de ce processus de vérification.

 

 

Dektak XT Solar Trace

Microfluidique - Vérification du design et des performances

Dektak XT Microfluidics

Dektak est le seul profileur de stylet à mesurer de grandes caractéristiques verticales de matériaux sensibles (jusqu'à 1 mm de hauteur) avec une répétabilité au niveau de l'angström. Les chercheurs des industries MEMS et microfluidique peuvent compter sur Dektak XT pour les mesures critiques nécessaires pour vérifier que leurs pièces sont construites selon les spécifications. La capacité de mesure de force faible, NLite +, applique une légère touche aux matériaux sensibles pour mesurer les étapes verticales et la rugosité avec précision sans endommager la surface de l'échantillon.

 

 

Vérification de la rugosité de surface - Assurer la performance

Le Dektak XT est idéal pour la qualification de routine de la rugosité de surface sur des pièces usinées avec précision pour une grande variété d'industries, y compris des dispositifs automobiles, aérospatiaux et médicaux. Par exemple, la rugosité du revêtement d'hydroxyapatite à l'arrière d'un implant orthopédique influence ses propriétés adhésives et son efficacité une fois implantées. Une analyse rapide de la surface rugueuse avec un Dektak XT confirme si la croissance cristalline souhaitée a été atteinte et si l'implant répond aux exigences de production. En utilisant la base de données Vision64 avec des critères de réussite / échec, le personnel d'assurance qualité peut facilement identifier les implants à retravailler ou certifier la qualité de l'implant.

Dektak XT Medical Scan