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マルチアングル深紫外線反射率測定・エリプソメトリー装置は、複雑なデバイス構造に使用されるパターン形成された薄膜および多層膜構造の高分解能・自動インライン測定を可能にします。
- 膜厚: 0 Å – 150 µm - 波長: 190 nm – 1700 nm - スポット径: 50 µm(標準)