VÅNTEC-500検出器

VÅNTEC-500検出器は、従来のX線フィルムのもつ視野の広さとフォトンカウンティング検出器の高感度さの長所を組み合わせた次世代の2D-XRDシステムにおけるキーテクノロジーです。15,000 mm²を超える広い検出領域により、従来のフィルムカメラと同等の2次元情報をわずか数秒で記録します。単一フォトンをリアルタイムで「見て」カウントすることで、すぐれた計数統計を実現しています。VÅNTEC-500 は、特許技術のMIKROGAP™テクノロジーを採用しているため、高いカウントレートでの運用が可能で、ノイズもほとんどありません。宇宙線や自然放射線を検出できる感度を有するVÅNTEC-500のバックグラウンドは、検出器エリア全体でわずか5cps以下です。そのため、低強度から高強度に至るあらゆるサンプルの分析に適しています。

MIKROGAPデザインの採用により、非常に安定した検出器に進化しました。ガス交換メンテナンスフリーで、物理的な振動や移動時の影響も受けにくく、高エネルギー放射線に対するダメージも抑えられます。豊富な経験が組み込まれた自社開発の検出器により、VÅNTEC-500は不感領域のないすばらしい検出器であることが保証されています。

MIKROGAP検出器内には、グリッド、アノード、遅延回路、Xe/CO2混合ガスがベリリウム窓で封止された気密チャンバーに格納されています。検出器へ到達したX線フォトンがXeガスをイオン化することで電子が発生し、電荷へ変換されます。これらの電子は、バイアス電界によりアノードに向かってドリフトします。電子の数はグリッド-アノード間のギャップにより増幅されます。結果、固体検出器では検出が難しい、非常に微弱な信号を効率的に増幅し検出することができます。各X線フォトンの位置は、X/Yの遅延回路により定義されます。MIKROGAPテクノロジーはこの高抵抗アノードにより、増幅ギャップの薄型化を可能にし、カウントレートをMWPCに対して大幅に改善しています。

2D-XRD法を実現には、ハードウェアとソフトウェア双方のレベルで、合理的で統合されたアプローチが肝要です。

DIFFRAC.SUITEソフトウェアは、最適な測定アプローチを提供します。DIFFRAC.SUITEは、さまざまな光学系配置におけるデータ記録に対し、最適な設定を提案します。2Dフレーム表示により、例えば、粗大粒によるスポット上の回折斑点や集合組織・配向によりよくにた形状を持つデバイリングを識別することができます。共通のパターンを示すデバイリングだけが、同じ結晶相に属することができます。独自のSearch/Match結晶相定性機能を使用して、該当する結晶相をピックアップすることができます。その他のソフトウェア機能は以下の通りです。

• DIFFRAC.COMMANDERとDIFFRAC.WIZARDに完全に統合された2D-XRD測定体系とプランニング
• 極点図と配向分布関数 (ODF) 解析用DIFFRAC.TEXTUREによる2Dフレームのネイティブ対応
• 残留応力解析用DIFFRAC.LEPTOSによる2Dモードとsin2ψモードのサポート

DAVINCIデザインコンセプトによりVÅNTEC-500ハードウェアを完全に統合

DAVINCI.MODE

• すべての個別情報を持つコンポーネントを瞬時に認識
• フェイルセーフ機能を搭載した検出器距離変更機能
• 自動検出機距離認識機構

DAVINCI.SNAP-LOCK － 工具を用いない光学系変更

• 迅速かつ簡単
• 光学系アライメントフリー
• 光学系トラック上の位置可変

DIFFRAC.DAVINCI

• リアルタイム光学系自動認識機構とステータスディスプレイ
• 載せ忘れ、載せまちがい、不一致コンポーネントの検出
• すべての手動または自動制御コンポーネントのパラメーター化