LYNXEYE検出器シリーズ

The LYNXEYE family of detectors represents the height of performance in compound strip detection for all X-ray diffraction and scattering applications.​

The SSD160-2, LYNXEYE-2, and LYNXEYE XE-T feature advanced 500 µm silicon strip sensors, compatible with all common X-raywavelengths - from Cr to Ag - and are fully integrated with all of Bruker’s X-ray diffractometers.​

The LYNXEYE HE, for the D8 ADVANCE and D8 DISCOVER, offers an air-cooled CdTe sensor optimized for applications requiring Mo or Ag radiation, like pair distribution function (PDF) analysis or operando studies on battery cells.​

All LYNXEYE detectors are engineered to meet the highest standards in technical precision, manufacturing quality, and system/software integration - ensuring unmatched versatility, reliability, and data quality across all applications.

粉末X線回折では、粉末サンプルを適切な粒径、かつ優先配向がない状態で調製することが重要な課題となります。2次元X線回折 (2D-XRD, XRD2) は、この理想的な粉末状態からの逸脱を可視化するのに有効な方法です。また、ラインプロファイルを相関させて結晶相同定を後押しし、定量化の信頼性を高めるのにも有用です。

すべてのLYNXEYE検出器シリーズは、2種類の2Dデータ記録方法をサポートしています。

ブルカーの特許技術である0°/90°マウントを搭載したD8 ADVANCEおよびD8 DISCOVERでは、検出器を90°回転させた状態で、従来の2θスキャンと組み合わせて2Dデータを収集します。また、すべての回折計で実施できるBRAGG2Dスキャンでは、集中法光学系配置のまま測定が行われ、新しい2Dデータ処理アルゴリズムで記録されます。これにより、広いサンプル領域をX線で照射することが可能となり、試料前処理状態を迅速にチェックすることができます。