LYNXEYE系列探测器代表了所有X射线衍射和散射应用中复合条带探测技术的最高性能水平。
SSD160-2、LYNXEYE-2 和 LYNXEYE XE-T 探测器采用先进的500 µm 硅条带传感器,兼容从铬(Cr)到银(Ag)的所有常见 X 射线波长,可完全集成到布鲁克全系 X 射线衍射仪中。
LYNXEYE HE高能探测器,专为 D8 ADVANCE 和 D8 DISCOVER 设计,配备风冷 CdTe 传感器,针对需要钼 (Mo) 或银 (Ag) 辐射的应用进行了优化,例如对分布函数 (PDF) 分析或原位电池研究。
所有 LYNXEYE 探测器均按照技术精度、制造品质以及系统/软件集成的最高标准设计制造,确保在各类应用中实现无与伦比的多功能性、可靠性和数据质量。
LYNXEYE XE‑T 探测器可实现对无效衍射信号的最优抑制效果。该探测器具备优于 380 eV 的能量分辨率,以及独有的抑制电荷共享效应技术,能够完全消除 Cu 靶辐射激发产生的铁荧光信号,并将 Cu Kβ 辐射抑制至 Cu Kα 强度的 0.1% 以下。最终获得几乎无伪影(如吸收边干扰)的高质量衍射数据,同时对痕量相与次要物相具备极高检测灵敏度。
粉末X射线衍射实验中经常遇到的一个挑战是,确保样品由尺寸适当的随机取向微晶组成。2DX射线衍射是一种便捷方法,可将偏离这种理想粉末状态的情况可视化。此外,有益的做法还包括通过关联线形来增强物相鉴定过程,以及提高定量分析可靠性。
LYNXEYE系列的所有探测器都支持两种采集2D数据的方法:
在配备布鲁克专利0/90°底座的D8 ADVANCE和D8 DISCOVER衍射仪上,使用常规2θ扫描在90°取向采集2D数据。利用所有衍射仪都具备的BRAGG2D,可在准聚焦光束衍射几何中测量数据,并使用一种新的2D数据处理算法进行处理。这样一来,就可以用全X射线束照亮很大样品面积,从而快速评估样品制备。
归功于其高动态范围、高计数率和快速读出时间,LYNXEYE探测器系列是所有应用的最佳选择,包括材料研究。
倒易空间图(RSM)对于外延多层膜结构表征和薄膜性质评估(如应力、成分和域效应)非常重要。
使用LYNXEYE系列的所有探测器均可提供的rapidRSM™技术,收集的RSM是一系列1D快照扫描,基本没有死区时间。这将所需扫描时间大幅缩短至几分钟甚至几秒钟,提高了样品吞吐量。
对于X射线反射法(XRR)和高分辨率XRD(HRXRD)测量,信号强度在测量范围内的变化达到几个数量级。因此,高动态范围是探测器的关键参数。通过切换到LYNXEYE系列的任何探测器的90°取向,动态范围可提高近乎200倍,不再需要吸收器,从而加快测量速度,改善数据质量。
规格 | 优势 | |
SSD160-2 | 通道数量:160(最多2400子通道) 能量分辨率:< 1000 eV FWHM (<426 eV Sigma) 8keV 有效窗口:12 x 16 mm²;2.5°覆盖,半径250 mm 缺陷通道数量:最大值1(<1%) 最高全局计数率:125,000,000 cps | 最多比常规探测器系统快125倍 卓越的荧光滤除 大动态范围,如用于0D应用 |
LYNXEYE-2 | LYNXEYE-2 通道数量:192(最多2880子通道) 能量分辨率:< 1000 eV FWHM (<426 eV Sigma) 8keV 有效窗口:14.4 x 16 mm²;3°覆盖,半径250 mm 缺陷通道数量:0 最高全局计数率:150,000,000 cps | 比最多比常规探测器系统快150倍 卓越的荧光滤除 大动态范围,如用于0D应用 保证交付时所有硅通道都可正常工作 |
LYNXEYE XE-T | 通道数量:192(最多2880子通道) 能量分辨率:< 380 eV FWHM (<160 eV Sigma) 8keV 有效窗口:14.4 x 16 mm²;3°覆盖,半径250 mm 缺陷通道数量:0 最高全局计数率:150,000,000 cps | 高通量模式下,最多比常规探测器系统快150x;高能量分辨率模式下快450x 大动态范围,如用于0D应用 保证交付时所有硅通道都可正常工作 无需Kß滤光片和二级单色器 100%滤除Fe荧光和Cu辐射 |
空间分辨率 | 75 μm | |
本底噪声 | < 0.05 cps,整个探测器 | 卓越的信噪比数据 |
波长 | Cr、Co、Cu、Mo和Ag | 一个探测器支持所有波长 |
传感器厚度 | 500 μm | > 99% Cr、Co、Cu;50% Mo;30% Ag传感器效率 |
扫描模式 | 0D:扫描0D模式 1D:扫描或固定模式、rapidRSM™和rapidNon-Ambient 2D:扫描2D模式和BRAGG2D | 极大动态范围,90°旋转取向 快速1D测量 BRAGG2D:使用发散性初级光束采集2D数据 |
工作介质 | 无 | 无需维护,无额外的耗材成本 |
应用 | XRR、HRXRD;物相鉴定、定量分析、结构精修、残余应力、织构 |