非破壊でのサンプル分析は、電子ビームによる帯電やダメージにより非常に難しい場合があります。また、地形とその結果生じる影が、結果の品質に影響を与えます。Bruker XFlash® FlatQUAD は、ギリシャのアテネ近郊のエーゲ海のウニ(パラセントロタス・リビダス)の例で示すように、このような制限を克服するために特別に設計されています。
図1-3はウニのさまざまな細部のSEMベースのEDSマップを示しています。図1では、右側にターコイズ色の脊椎結節が見られ、左側にある緑色とターコイズ色のスペードのような構造が極小の背骨です。顕微鏡画像の中心部には、赤色の個々の砂粒を確認することができます。このマップは、6kVの加速電圧と低ビーム電流の高真空条件下で、カーボンコーティングや研磨などのサンプル調製なしで環状SDD(XFlash®FlatQUAD)を用いて得られました。
このユニークな環状EDS検出器は、BSE検出器のようにサンプルの上に配置されます。XFlash® FlatQUAD は、低X線収率に対して非常に高い感度を備えており、影の影響を最小限に抑えます。したがって、一部のライフサイエンスアプリケーションのような粗い表面、ビームに敏感なのサンプルをマッピングするのに最適なツールです。