外部アクセサリ

PMA50

偏光変調測定用モジュール
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特長

PMA50は、ブルカーのINVENIOおよびVERTEXシリーズFT-IRと組み合わせて用いる、偏光変調測定モジュールです。PMA50に組み込まれているすべての光学部品と電子部品は、赤外領域における偏光変調測定に最適化されており、PM-IRRASを代表とする直線二色性分光測定ならびに振動円二色性分光測定VCDにおいて優れた性能を示します。


偏光変調測定法の中核となるのは、42 kHzの変調周波数をもつ光弾性変調器(PEM)です。並列24ビットデュアルチャネルデータ取得技術により、変調信号のDC成分とAC成分を高い精度で同時に取得することができます。さらに、最短の光路をもつPMA50は、優れたS/Nと安定性をもたらします。

INVENIOおよびVERTEXでは、ソフトウェア制御によるJ-stopアパーチャの切り替えと光学フィルターの選択が可能なため、試料上の測定エリアの最適化と、測定波数領域の設定が簡単に行えます。光学系自身がもつ偏光特性を最小限に抑え、偏光測定における最高の性能を得るため、検出光学系には高精度のレンズ集光方式を採用しています。

 

アプリケーション

  • 参照基板を用いることなく、金属基板上の単分子層または非常に薄いコーティングに関する解析が可能
  • 腐食プロセスの解析
  • 水蒸気による妨害吸収の排除
  • タンパク質とペプチドの二次構造の特性評価
  • エナンチオマーの純度制御
  • エナンチオマーのコンフォメーション解析

詳細

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