Dimension Icon

業界をリードするブルカーのチップスキャン方式AFMテクノロジーの最新の進化を組み込んだIconの温度補償位置センサーは、Z軸ではÅ未満の範囲、X-YではÅレベルのノイズレベルを実現します。これは、大型試料向けのスキャン範囲90ミクロンのシステムとしては驚くべき性能であり、ほとんどのオープンループ方式の高分解能AFMのノイズ性能を上回っています。

最高の性能

  • 独自のセンサー設計により、大型試料用AFMではこれまで得ることができなかったオープンループ方式のノイズレベルとクローズドループ方式の性能を実現
  • ノイズフロアを大幅に低下させることで、TappingMode™により30 pm未満の接触モードで原子レベルのイメージングを実現
  • 200 pm/分未満のドリフト率により歪みのない画像を実現

並外れた生産性

  • 統合されたフィードバックアライメントツールにより、短時間で最適なプローブの位置決めが可能
  • 高分解能カメラとX-Y位置決めにより、高速で効率的に試料を移動可能
  • ScanAsyst®イメージングとNanoScope®ソフトウェアを標準の実験モードと組み合わせて、数十年にわたって蓄積した知識を事前設定済み設定として抽出

卓越した汎用性

  • チップと試料に自由にアクセスできるので、多種多様な標準実験やカスタマイズした実験に対応可能
  • 現在と将来のブルカーの AFMモードと手法を最大限に活用できるように設計された装置とソフトウェア
  • ユーザーがプログラム可能なカスタムスクリプトにより、測定と分析を半自動化
Dimension_Icon_interface_300x184.png
The intuitive graphical user interface provides immediate access to eight channels and extensive controller functions. Image data (left) show topography of triblock copolymer with 5Kx5K data points, 10μm scan size in closed-loop. Zoomed image (right) is a