Scanning Electrochemical Potential Microscopy (SECPM)

The resolution of STM in a dynamic chemical environment

Probing the nanoelectrical characteristics of a substance as an electrochemical reaction takes place can be of interest in a variety of research fields, such as biochemistry, corrosion, and battery development. Both SECPM and Electrochemical AFM (EC-AFM) techniques are used to investigate electrochemical changes at electrode/electrolyte interfaces. SECPM detects and images potential changes across the sample surface, while EC-AFM detects electrostatic forces.

SECPM provides insights into electrochemical reactions at the liquid/sample interface by mapping the potential distribution of the surface with a resolution comparable to Scanning Tunneling Microscopy (STM).

Featured on the following Bruker AFM:

Scanning_ElectChem_Poten_schematic.png
information on how SECPM works and the interaction at the probe and sample site.

Recommended AFM probe:

走査型電気化学電位顕微鏡(SECPM)

動的な化学環境下でSTMが持つ分解能を実現

電気化学的反応が起こる物質のナノ電気特性は、生化学、腐食分析、電池開発といったさまざまな分野の研究対象となります。SECPMおよび電気化学AFM (EC-AFM) テクニックは、どちらも電極/電解質の固液界面における電気化学的変化の研究に用いられています。SECPMはサンプル表面の電位変化を検出し、イメージングします。一方のEC-AFMは、静電的なフォースを検出します。 SECPMでは、走査型トンネル顕微鏡 (STM) に匹敵する分解能で表面の電位分布をマッピングし,サンプルと液体界面における電気化学的反応を洞察します。

SECPMモードを搭載するブルカーの       AFMシステム:

Scanning Elect Chem Poten schematic
information on how SECPM works and the interaction at the probe and sample site.

推奨されるAFMプローブ: