M4 TORNADO, 2D µ-XRF, Ultimate Speed and Accuracy

電子部品の分布解析

高速・非破壊・高感度な分析方法として、μXRFは電子部品の検査に適しています。M4 TORNADOは、元素の組成に関する重要な情報を提供し、次の目的に使用できます。

  • いくつかの元素の分布の決定
  • RoHS元素の測定とあらゆるコンポーネントのコンプライアンス
  • 被覆厚さ決定のための試料の特定領域の定量分析または含有元素の組成分析
  • 高エネルギー蛍光X線を測定することによるICの非破壊検査

M4 TORNADOの特徴であるHyperMap機能は、マッピング領域内のすべてのピクセル元素情報を適切に処理しさまざまな角度からの分析アプローチを可能にします。

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