地質学的サンプルの分析

μXRFを用いた地質試料の分析は、試料の構造および組成に関する幅広い情報を提供します。これには、元素の分布、単一の粒子の識別と分析、ラインスキャンの実行が含まれます。M4 TORNADOの高いカウントレート能力と優れた検出器性能は、非常に短い測定時間内に信頼性の高いデータ収集を可能にします。TurboSpeedステージでは、非常に速いマッピングと「オンザフライ」での測定が可能です。

低ミリ秒の範囲で非常に短い取得時間であっても、すでに材料の構造の第一印象を与えることができます。測定時間が長くなると、統計の精度が向上し、ピクセル間のコントラストが向上するため、空間分解能が向上します。測定時間が長くなれば、微量元素を調べることもできます。

μXRF分析は、集光X線を用いて試料を直接励起します。これにより、ポリキャピラリレンズのもつマイクロメータースケールの空間分解能とXRFの微量元素感度との組み合わせが可能になります。ここで、ほとんどの元素の検出限界は数十〜数百ppmです。μXRFでは、サンプルの前処理は不要です。データ収集と評価が高速で、1時間以内に複数の薄切片をスキャンすることができます。

M4 TORNADOは、薄片の迅速な組成予備スクリーニングおよび光学または電子顕微鏡研究の前の薄い部分のデジタル化のための岩石学で使用されています。最大170 × 140mm²までの広いスキャンエリアにより、1回の操作で最大18の薄切片を分析することができます。M4 TORNADOソフトウェアは包括的なデータ表示と評価をサポートします。化学マップの視覚化および関心領域の選択は、元素および鉱物相の迅速な同定、定量分析および微量元素の発見のための相分析としてのHyperMapデータの高度な後処理を可能にします。