X선 회절분석(XRD)

DIFFRAC.EVA

시각화, 데이터 감소, 상식별 및 정량화, 통계 평가를 포함한 1D 및 2D X선 데이터 집합의 분석을 위한 소프트웨어.

일반적인 스캔 평가

일상적인 데이터 및 최첨단 연구

X선 회절계 연구자의 스위스 군용 칼

DIFFRAC.EVA는 1차원 및 2차원 회절 데이터를 빠르게 분석할 수 있는 도구를 제공합니다. 모든 브루커 검출기 및 XRD 스캔 유형을 지원합니다. EVA 기능은 데이터 감소, 기본 스캔 평가 및 프레젠테이션, 상세한 피크 분석, 상 식별 및 정량화, 결정성 및 결정성 크기 측정에 이르기까지 광범위한 분석 스펙트럼을 다룹니다.

EVA는 상 식별을 위한 모든 관련 데이터베이스와 인터페이스하며 수상 경력에 빛나는 종 식별에 대한 XRF 기반 화학 분석과 같은 결정 구조 및 보완적인 화학 조성 정보를 추가로 사용할 수 있습니다.

또한, DIFFRAC.EVA는 오늘날의 빠른 검출기에서 비롯된 빅 데이터의 효율적인 평가, in-situ 환경 사용, 높은 처리량 스크리닝 또는 공간적으로 해결된 측정을 지원합니다. 이 소프트웨어는 특정 차트 유형을 제공하지만 클러스터 분석 및 패턴 일치 기반 결정및 비정질 종 식별 및 정량화를위한 고급 화학 요법 도구를 제공합니다.

기존의 파일 기반 작업을 완벽하게 지원할뿐만 아니라 제약 산업에 대한 21 CFR Part 11 규정에서 요구하는 통제 된 환경에서도 일상 작업을 위해 DIFFRAC.SUITE 데이터베이스 인프라를 통합합니다.

마지막으로 DIFFRAC.EVA는 EVA에서 직접 또는 DIFFRAC.SUITE RESULTS-MANAGER 및 기기 데이터베이스를 사용하여 게시 준비 그래프 및 사용자별 보고서를 준비하는 데 사용됩니다.

향상된 기능 소개 -  EVA 버전 7의 새로운 기능을 확인하십시오.

실험 쌍 분포 함수 생성 (PDF)

손쉬운 PDF 생성: PDF 분석 분야의 전문가인 리모주(Limoges) 대학의 Olivier Masson 교수와의 공동 작업 결과를 발표하게 된 것을 자랑스럽게 생각합니다. 그의 전문 지식을 활용하여 DIFFRAC.EVA는 이제 원시 회절 데이터에서 실험 PDF를 생성하는 강력한 PyTSRedX 알고리즘을 포함합니다. PDF 분석을 시작하는 것이 이렇게 간단했던 적은 없었습니다. 몇 번의 클릭만으로 사용자는 빠르고 쉽게 고품질 PDF를 만들 수 있습니다. DIFFRAC.EVA는 백그라운드 및 Compton 산란, 흡수, 편광 및 X선 형광을 자동으로 보정한 다음 데이터를 정리하고 푸리에 변환하는 등의 작업을 모두 몇 초 안에 처리합니다.

DIFFRAC.TOPAS에서 추가적 정량 분석을 위한 실험 PDF를 내보내기 하여, 비정질의 물질, 나노 구조 또는 무질서한 구조에서의 국소 효과에 대한 분석 등, 차원이 다른 새로운 X선 데이터 분석의 세계를 경험하십시오.

감소된 산란 함수, F(Q)(상단) 및 C60의 실험적 PDF(하단). D6 PHASER의 Mo 방사선을 이용한 모세관(capillary)  분석방법으로 데이터를 수집했습니다.
사용자 작업 워크플로우

강력한 워크플로우 기능을 통해 이전에 기록된 명령을 쉽게 반복합니다. 일련의 EVA 명령을 기록하고 언제든지 재생할 수 있습니다. 기록 프로세스 중에는 해당 명령만 활성화됩니다. 워크플로우 실행 컨트롤은 현재 선택 항목과 관련이 있는 명령으로 시작하는 작업만 보여주는 상황에 맞는 워크플로우를 표시합니다. 도구 모음의 편리한 드롭다운 목록을 사용하여 워크플로우를 즉시 시작할 수 있습니다. 편집 버튼을 사용하여 사전 기록된 워크플로우 내에서 명령 매개변수를 수정할 수 있습니다.

DIFFRAC.EVA의 워크플로우 기능의 이점:

  • 향상된 효율성: 워크플로를 통해 사용자는 일련의 명령을 기록하고 재생할 수 있으므로 반복 작업을 실행하는 데 드는 시간과 노력을 절약할 수 있습니다. 복잡하거나 자주 수행되는 작업을 자동화함으로써 워크플로우는 분석 프로세스를 간소화하고 전반적인 효율성을 향상시킵니다.
  • 일관성과 재현성: 워크플로우는 특정 분석 중에 사용되는 명령의 정확한 순서를 캡처하여 데이터 분석의 일관성과 재현성을 보장합니다. 이 기능은 공동 프로젝트로 작업하거나 이전 분석을 다시 확인할 때 특히 유용합니다.
  • 오류 감소: 워크플로우를 사용하면 데이터 분석 중에 사람에 의한 오류의 위험이 줄어듭니다. 기록된 워크플로우는 미리 정의된 명령을 정확하게 실행하기 때문에 실수나 누락의 가능성이 최소화되어 보다 안정적이고 신뢰할 수 있는 결과를 얻을 수 있습니다.
  • 간소화된 작동: 워크플로우는 복잡한 분석 절차를 일련의 관리 가능한 단계로 분류하여 실행을 단순화합니다. 수동으로 여러 명령을 기억하고 실행할 필요 없이 사용자는 클릭 한 번으로 전체 워크플로를 실행할 수 있습니다 .
  • 유연성 및 사용자 정의: 워크플로우는 각 분석의 요구 사항에 맞는 유연성과 사용자 지정 옵션을 제공합니다. 특정 분석 요구 사항에 적용 및 맟출 수 있도록 사용자가 매개변수를 조정하여 기록된 워크플로우를 수정 및 디테일하게 조정할 수 있습니다.
  • 간소화된 협업: 워크플로우는 데이터 분석에 대한 표준화된 접근 방식을 제공하여 연구자 간의 협업을 촉진합니다. 기록된 워크플로우를 팀 구성원과 쉽게 공유할 수 있어 여러 사용자 간에 일관성을 유지하고 프로젝트에서 원활한 공동 작업을 수행할 수 있습니다.

전반적으로 DIFFRAC.EVA의 워크플로우를 사용하면 향상된 효율성과 정확도, 재현성 및 협업 기능을 제공하여 보다 능률적이고 생산적인 데이터 분석을 경험할 수 있습니다.

구동 창에 표시된 워크플로우 예시
향상된 패턴 피팅

DIFFRAC.EVA는 패턴 피팅 기능을 크게 개선하여 분석의 정확성과 신뢰성을 향상시킵니다.  개선된 알고리즘, 더 빠른 성능, 더 안정적인 결과를 경험하십시오.

  • 격자 매개변수 정제: 오프셋 및 샘플 높이 수정이 추가된 새로운 격자 매개변수 정제로 더 높은 정밀도와 정확도를 달성합니다.
  • 선호 방향 및 강도 피팅: 선호 방향 교정을 위해 March-Dollase 모델 및 최대 6도의 구형 고조파와 같은 고급 기능을 확인해 보십시오. Pawley와 같은 접근 방식을 사용하여 제약 없이 피크 높이 피팅을 수행합니다. pseudo-Voigt 피크를 Voigt 피크 모양 함수 및 Pearson VII로 대체하면 프로파일 피팅이 더욱 향상되어 더 나은 미세 구조 분석이 가능합니다.
  • 개선된 방출 프로필: K-알파 스펙트럼에 K-베타 및 텅스텐 선과 같은 스펙트럼 불순물을 포함하여 전체 피팅 내에서 선명도를 향상하고 중요도가 낮은 신호를 정확하게 분류합니다. 이 기능은 신호를 명확하게 식별하도록 개선하고 X선 데이터에 대해 보다 포괄적인 분석을 제공합니다.
  • 정량 분석 및 비정질 상태: 가장 높은 피크 또는 모든 피크의 피팅들에 기준 강도 비율(RIR)과 같은 옵션을 사용하여 반정량 분석을 수행합니다. "Amorphous Phases" 탭의 전용 버튼을 사용하여 하나 이상의 비정질 "상태"을 쉽게 추가하십시오.

이러한 향상된 기능을 통해 DIFFRAC.EVA는 보다 정확하고 의미 있는 결과를 얻을 수 있도록 지원하여 X선 데이터의 고급 패턴 피팅 및 포괄적인 분석을 가능하게 합니다.

Corundum을 내부 표준으로 한 석영 및 석영-유리 혼합물의 반정량 상태의 분석.
새로운 측정 패턴 함수

확장된 데이터 접근성 및 관리: EVA의 잘 알려진 검색/일치 기능을 사용하여 PDF-4 데이터베이스의 원시 데이터에 액세스하고 추가 분석을 위해 원본 스캔 데이터를 손쉽게 추출합니다.

 

또한 분석 결과와 더불어 참조 측정 및 기타 중요한 데이터를 함께 저장하는 사용자의 측정 패턴을 포함 함으로서 사용자 데이터베이스의 기능을 향상시킵니다. 이러한 사용자 데이터베이스를 참조 입력값으로서 클러스터 분석, 양성 물질 식별(PMI) 또는 강력한 반정량적 패턴 일치(SQUALL) 기능에 활용됩니다. 사용자 데이터베이스와 매치되는 패턴값을 결합을 통해  X-레이 데이터 평가의 정확성과 깊이를 향상하여 패턴의 고급 분석 및 비교를 수행할 수 있습니다. 향상된 데이터 접근성, 포괄적인 관리 옵션 및 고급 패턴 일치 기능으로  DIFFRAC.EVA는 X선 데이터 분석 프로세스를 간소화하고 향상시킬 수 있도록 해 줍니다.

DIFFRAC.EVA 핵심 기능 둘러보기

데이터 감소, 시각화 및 조작

DIFFRAC.EVA는 측정의 첫 인상을 얻기 위해 선택의 소프트웨어입니다. 중요한 단계는 안정적인 검출기의 하나 또는 여러 스냅샷 이미지에서 데이터를 줄이거나 스캔 2D 검출기에서 기존 1차원 XRD 데이터로 픽셀을 재비닝하는 것입니다. EVA는 이러한 1D 데이터를 추가로 분석할 수 있는 잘 설정된 도구를 제공합니다. 이는 일상적인 신호 처리에서 부터 스캔 산술 및 보다 진보된 기술에 이르기까지 다양하여 개별 피크를 살펴보고 검사를 완료합니다.

빅 데이터 시각화 및 기능 추출

EVA의 클러스터 분석은 대규모 X선 데이터 세트에 대한 심층적인 이해와 직관적인 프레젠테이션을 제공합니다.

클러스터 분석 도구는 잘 알려진 Polysnap 소프트웨어의 적응입니다. 그것은 알려진 및 알려지지 않은 샘플의 식별을 돕고, 혼합물, 이상값을 분석하고, 품질 관리를 지원합니다. 그것은 높은 하지만 퍼 팅뿐만 아니라 비 주변 데이터를 분석하는 데 사용됩니다.

DIFFRAC.EVA – 클러스터 분석, 3D MMDS 보기
메트릭 다차원 크기 조정은 클러스터 분석 데이터를 3D로 그래픽으로 표현하는 방법입니다. EVA는 추가 정보를 시각화하기 위해 PCA 플롯과 최대 6차원 차트를 제공합니다.

대규모 데이터 세트 및 추가 정보

다중 스캔 리더는 수백 개의 스캔을 빠르게 로드하고 2차원 표현에서 간단한 개요를 제공합니다. 일반 품질 관리 측정의 이상값을 쉽게 발견하고 상세 검사가치가 있는 특정 스캔은 상호 공간 지도 또는 비주변 또는 오페라 측정 시리즈에서 추출할 수 있습니다.

측정 위치, 온도, 습도, 충전 상태 또는 개별 피크 또는 비정질 배경의 양과 같은 추가 스캔 정보는 측면 보기에서 시각화될 수 있습니다. 다시 말하지만, 이것은 위상 변환, 분해 또는 단계의 형성에 대한 추가 검사를 위한 관심스캔을 찾는 데 도움을 주어 있습니다.

BRAGG2D

큰 빔 풋 프린트와 Bragg-Brentano 지오메트리의 높은 분해능을 조합하여 샘플 형태를 모니터링하는 간단한 방법 (예 : 입자 크기, 텍스처 또는 샘플 홀더의 결정자 정렬로 인한 선호 방향으로 인한 얼룩)을 얻을 수 있습니다. LYNXEYE 검출기 제품군을 사용한 비대칭 1D 검출 DIFFRAC.EVA는 이러한 데이터를 시각화하고 추가 세부 검사를 위해 개별 스캔을 선택하는 데 사용됩니다..

상 분석

첫 번째 실행 이후, EVA의 검색/일치 모듈은 일반적으로 상 식별을 위한 가장 신뢰할 수 있고 정확한 도구로 인정받고 있습니다. 이에 따라 EVA는 국제적인 Search-Match Round Robin (Le Meins et al., 2002, www.cristal.org/smrr ) 에서 최고의 성과를 거두었습니다 . 그 이후로 수많은 개선으로 인해 EVA는 상 분석을 위한 기존 소프트웨어와 더욱 차별화 되었습니다.

  • 이미 식별된 단계에 대해 매우 정교한 잔류 검색이 있으므로 사소한 단계의 분석이 크게 개선됩니다.
  • 검출 한계(LLoD) 현저히 감소하여 매우 정확한 추적 단계 분석을 위한 가변 계수 시간(VCT) 및 다이나믹 빔 최적화(DBO) 데이터 지원
  • ICDD PDF2/PDF4+/PDF4 미네랄/PDF4 유기물 데이터베이스와 같은 여러 참조 데이터베이스에서 동시 검색
  • 유사하거나 거의 동일한 참조 데이터베이스 항목수를 처리하기 위해 후보 패턴 단계 그룹화
  • RIR(기준 강도 비율) 값을 기반으로 한 위상 식별 및 정확한 정량적 위상 분석

DIFFRAC.EVA 이점

  • 데이터 통합 및 평가를 위한 최상의 알고리즘을 완벽하게 수집
  • 최대의 단순성과 유연성을 위한 혁신적인 설계 및 작동 개념.
  • 멀티 스레딩, 전용 병렬화, 기본 64 비트 지원과 같은 최신 컴퓨터와 운영 체제를 최대한 활용
  • 시각적 유효성 검사를 위한 모든 평가의 실시간 미리 보기
  • EVA를 사용하여 실행 취소 및 다시 실행 가능
  • 매우 유연한 GUI는 다양한 소프트웨어 모듈의 사용 가능한 사용자 하드웨어, 모범 작동 관행 및 요구 사항에 적응합니다.
  • 개별 창 레이아웃, 열 구성 및 화면 설정에 대한 사용자 기본 설정에 대한 사용자 기본 설정에 대한 사용자 지정
  • DIFFRAC.SUITE 측정 및 결과 관리자 소프트웨어와의 높은 수준의 통합
  • 광범위한 단계별 자습서를 통해 EVA는 처음부터 쉽게 사용할 수 있습니다.

분석과제는 무엇입니까?

피크 및 상 모니터링

개별 피크의 수치 영역 또는 분석 프로파일 분석은 품질 관리, 결정질의 형성 또는 변형 모니터링 또는 피크 / 배경 또는 신호 / 노이즈 비율의 자동 결정에 사용됩니다.

결정 결정

% 결정화도(또는 재료에서 결정질 대 비결정질 또는 나노 결정질 종의 비율)은 확장된 스캔 범위에서 기준선 대 피크 분리를 주의깊게 평가하여 평가됩니다.

결정 크기 결정

피크 폭은 결정의 크기와 반비례합니다. Scherrer 방정식은 이 관계를 정량화합니다. DIFFRAC.EVA의 결정 크기는 숫자 영역 또는 분석 피크 프로파일 분석에서 얻습니다.

상 식별

DIFFRAC.EVA는 XRD 측정과 참조 데이터베이스와 효율적으로 일치하는 도구를 제공합니다. 이를 통해 440.000개 이상의 무기와 550.000개 이상의 알려진 유기 결정화합물 중 혼합물에서 종을 빠르고 자동으로 식별할 수 있습니다.

정량적 분석

표고된 기준 강도 비율을 기반으로 하는 반정량 분석은 고전적인 스틱 패턴 또는 전체 프로파일 핏에서 혼합물을 신속하게 정량화하는데 사용됩니다. 내부 표준의 사용은 또한 혼합물에 wt%의 비정질의 결정을 허용합니다

결정학적 매개변수

기기 및 샘플 수차를 고려하여 DIFFRAC.EVA를 사용하여 각 결정질 재료에 일반적인 기하학적 매개 변수를 최적화 할 수 있습니다.

클러스터 분석

최대 6차원의 계층적 유사성 분석 및 시각화, 분류, 자동 무정형 결정 및 혼합 분석, 다음과 같은 질문을 합니다: 이 물질을 알고 있는 것과 유사한 것은 무엇입니까?, 재료 그룹의 전형적인 대표는 무엇입니까?

스캔 매칭

상관 관계 분석 및 측정된 참조 스캔을 사용하여 데이터베이스에 알려지지 않은 물질의 식별 및 정량화가 가능합니다. 이는 순수한 단계에만 적용되는 것이 아니라 위상 자체의 혼합물로 잘 정의된 물질의 식별을 허용합니다.

흔들리는 곡선

다양한 샘플 방향에서 측정된 2D 검출기 데이터에서 얻은 흔들 곡선은 단일 결정 또는 박막의 빠른 품질 검사에 사용할 수 있습니다.

DIFFRAC.EVA 사양

버전

현재 소프트웨어 버전은 DIFFRAC.EVA V7, DIFFRAC.Part 11 V8입니다.  

데이터베이스 호환성

버전 8.7 및 R/w 액세스에 호환되는 두 가지 버전

 

준수

cGxP/21CFR 파트 11

 

운영 체제

Windows 10및 11, 64비트  

DIFFRAC.EVA를 최신 상태로 유지하십시오.

무료 유지 보수 업데이트

무료 DIFFRAC. EVA 유지 보수 업데이트는 EVA 버전을 최신판으로 갱신합니다. EVA 라이센스 수준에 관계없이 www.brukersupport.com 최신 유지 관리 업데이트를 무료로 다운로드할 수 있습니다!

다운로드 프로세스

  • 브루커 고객 지원에 등록
  • "소프트웨어" 버튼을 클릭합니다.
  • DIFFRAC.EVA 유지 관리 업데이트 검색
  • 업데이트 다운로드

버그 수정

DIFFRAC.EVA를 최신 상태로 유지하면 라이선스 수준에 관계없이 현재 버전뿐 아니라 이전에 출시 된 모든 버전에 대한 모든 버그 수정의 혜택을받을 수 있습니다. DIFFRAC.EVA 유지 관리 업데이트는 누적되므로 이전 버전에 적용 할 수 있습니다.

업그레이드란 무엇입니까?

DIFFRAC.EVA 유지 관리 업데이트에는 새로운 기능이 제공되지 않습니다. 새로운 주요 릴리스에 도입 된 기능을 활용하려면 최신 DIFFRAC.EVA 업그레이드를 구입해야합니다.

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