AFM Modes

PhaseImaging Mode

지형 이미징을 넘어 빠르고 쉽게 이동

PhaseImaging™ 는 TappingMode™에서 파생된 이차 이미징 모드로 전기 및 자기를 포함한 조성, 접착, 마찰, 점성 및 기타 특성의 변화를 감지합니다. 응용 분야에는 복합 재료의 오염 식별 및 매핑 구성 요소가 포함됩니다.

위상 이미징은 캔틸레버를 구동하는 주기적인 신호와 캔틸레버의 진동 사이의 위상 지연을 매핑합니다. 위상 지연의 변화는 종종 샘플 표면의 속성의 변화를 나타냅니다. 지형 및 재료 특성의 이미지를 동시에 수집할 수 있습니다.

위상 화상 진찰은 자기 힘 현미경 검사법 (MFM),전기 력 현미경 검사법 (EFM)및 스캔 정전 용량 현미경 검사 (SCM)를포함하여 다수의 AFM 기술의 핵심 요소입니다.

PhaseImaging은 SBS 트라이 블록 공중합체에서 미세 위상 분리를 명확하게 보여줍니다.