AFM 模式

相位显示模式

快速轻松地超越地形成像

相成像™是一种从攻丝模式派生的二次成像模式™用于检测组合物、粘附性、摩擦性、粘弹性和其他特性(包括电和磁)的变化。应用包括污染物识别和复合材料的映射部件。

相位成像映射驱动悬臂的周期信号与悬臂振荡之间的相位延迟。相位延迟的变化通常表示样品曲面属性的变化。可以同时收集地形和材料属性的图像。

相位成像是许多AFM技术的关键元素,包括磁力显微镜(MFM),电动显微镜(EFM)和扫描电容显微镜(SCM)。

相成像清楚地显示了SBS三块共相聚合物中的微相分离。