MATRIX F-Kopie

수상 경력에 빛나는 MATRIX-F FT-NIR 분광계는 프로세스 반응기 및 파이프라인에서 직접적인 측정이 가능하여, 프로세스를 더 잘 이해하고 제어할 수 있습니다.

  • 몇 초 안에 정확한 인라인(In-line)결과
  • 측정당 다수 구성 요소
  • 비파괴적 분석
  • 내장형 6포트 멀티플렉서(선택) 
  • 직접법 전송
  • 튼튼한 설계
  • 이더넷 연결 및 산업 표준 통신 프로토콜

자세한 내용 요청하기

실시간 FT-NIR

실시간 온라인(On-line) 분석의 이점은 잘 알려져 있습니다. 그러나 기존 분광계는 모니터링하고 있는 프로세스에 근접하게만 설치가 가능하기 때문에, 급격한 온도 변화, 먼지/때 노출 등과 같은 불리한 환경에 분석기가 노출됩니다. 또한 접근이 어렵고 종종 폭발 보호 구역에 기기를 배치해야 합니다.

광섬유 기술을 사용함으로써 산업용 경화 광섬유 프로브를 통해 접근이 어려운 측정점에 접근할 수 있으며, 분석실 등에 MATRIX-F를 배치합니다. Bruker Optics는 다양한 온라인(On-line) 분석 업무를 위한 완벽한 솔루션입니다.

최대 유용성

MATRIX-F는 발광 섬유 기술을 이용해 한 대의 기기만으로 접촉식, 비접촉식으로 물질을 측정할 수 있는 유일한 FT-NIR 분광계입니다.

 

  • 광섬유 프로브 : 프로세스 플로 셀 또는 시험공장 어셈블리뿐만 아니라 경로 길이가 다양한 전형적인 확산반사, 투과반사 또는 투과 프로브를 사용할 수 있습니다. 스테인리스 강 또는 하스텔로이와 같은 다양한 프로브 재료를 사용할 수 있습니다.
  • 비접촉 측정을 위한 헤드 : 광섬유 NIR 조도 감지 헤드에는 샘플을 비추는 텅스텐이 포함되어 있습니다. 분광계에 연결된 광섬유 케이블을 통해 산란광을 수집 및 인도합니다. 이렇듯, 원격으로 비접촉 측정을 할 수 있어, 새로운 용도로 폭넓게 이용이 가능합니다. 최대 6개의 헤드를 한 대의 MATRIX-F 방출 분광계 또는 MATRIX-F 듀플렉스 분석계에 연결할 수 있습니다.

MATRIX-F는 기존 광섬유 프로브 및 플로 셀뿐만 아니라 비접촉 측정 헤드와 함께 작동할 수 있습니다.

업계의 니즈에 따라 MATRIX-F를 다음과 같이 장착할 수 있습니다.

MATRIX F

MATRIX-F: 플로 셀 및 기존 프로브(고체 및 액체용)를 사용할 수 있는 광섬유 단자를 갖춘 전형적인 FT-NIR 분광계.

MATRIX-F emission 200x150

MATRIX-F 방출: 비접촉 측정 전용 광 단자 측정 헤드를 사용하는 MATRIX-F 분광계의 특수 버전.

MATRIX-F DUPLEX 450x350

MATRIX-F 듀플렉스: 광섬유 프로브와 광 단자 측정 헤드를 동시에 사용하는 전형적인 MATRIX-F FT-NIR 분광계의 확장형.

고급 기술

MATRIX-F는 가혹한 환경을 견딜 수 있는 전용 FT-NIR 프로세스 분광계입니다.

 이 기기는 소형 모듈에 뛰어난 민감도 및 안정성을 갖추기 위해 최신 광학을 사용합니다. 혁신적인 설계로, 덜 민감하고 덜 정밀한 기기는 할 수 없는 일관된 고품질 결과, 정지시간 감소, 직접 메서드 전송, 새로운 용도의 가능성을 선사합니다. 업계 표준 통신 프로토콜을 전체 지원하여 쉬운 통합을 보장합니다.

 또한 MATRIX-F를 메서드 개발을 위한 독립형 시스템으로 실험실에 설치한 다음 프로세스 응용에 직접 돌입할 수 있습니다. NEMA 4/IP66(부분 방수) 하우징을 갖춘 단독 장치로 사용할 수 있으며, 온도 제어실 안의 표준 19인치 랙에 장착할 수도 있습니다. MATRIX-F에는 6포트 광섬유 멀티플렉서를 장착할 수 있습니다.

MATRIX-F 방폭형

MATRIX-F II 2G Ex px II T6 GbII (1) G [Ex op is T4 Ga] II C 표준을 준수하여,

 방폭 ATEX 등급 버전으로 사용할 수도 있습니다.

유지관리

MATRIX-F는 믿을 수 있고 유지관리가 쉽도록 설계되었습니다. 사전 조정대의 소모성 부품은 광학의 재조정 없이 사용자가 교체할 수 있습니다. 제조 공정의 중단을 최소화하기 위해 기기를 빠르게 점검할 수 있습니다.

기기 성능 검증

MATRIX-F에는 기기 성능을 테스트하기 위한 표준 재료 및 필터가 들어 있는 자동 필터 휠이 장착되어 있습니다. OVP(OPUS 검증 프로그램) 소프트웨어가 일련의 성능 테스트를 시행하여, 기기 성능을 평가하고 기기가 사양 내에게 작동하고 있음을 확인합니다. 이것은 제약 산업에서 사용하기 위한 전제 조건입니다.

연결성

CMET 소프트웨어는 4-20mA, Modbus, Profibus DP, OPC를 포함한 광범위한 표준 통신 인터페이스 및 프로토콜을 사용해 모든 프로세스 제어 환경에 OPUS를 통합할 수 있는 산업 표준 인터페이스(OPC)를 제공합니다.

사용된 기술은 다음 특허에 의해 보호됩니다. US 7034944

FT-NIR 프로세스 모니터링

MATRIX-F Industry

오늘날 많은 제조업체가 최고급 완제품을 생산하는 것뿐만 아니라 연구실의 분석 기술을 공장에 적용하여 생산 효율성을 향상시키는 것에도 매진하고 있습니다. 제조 과정을 더욱 엄격하게 제어함으로써 재료의 사용을 최적화하고 사양을 벗어난 재료 생산을 감소 또는 제거하여 재처리 또는 처분 비용을 없앱니다.

일반적인 프로세스 제어에는 다음과 같은 화학 반응 및 중간제품/완제품 품질의 직접적인 모니터링이 포함됩니다.

 

  • 웹 또는 컨베이어 벨트 위 프로세스 반응기 또는 파이프라인에서 직접 측정
  • 장거리 원격 측정
  • 향상된 프로세스 이해 및 제어
  • 혼합 과정의 균질성, 구성 화학약품의 농도, 다양한 산업의 중합 과정 상태 판단을 위한 이상적인 도구

사용 지원

Bruker Optics는 기기 및 사용에 대한 깊은 지식을 갖춘 전문 과학자와 기술자를 보유하고 있습니다. 제품 전문가들이 원격으로 또는 사용자 실험실에서 메서드 개발을 도울 수 있습니다.

 

 또한 Bruker Optics는 NIR 분광 업계에 쉽게 진입할 수 있도록 바로 사용할 수 있는 다수의 보정을 제공합니다.

서비스 및 교육

Bruker Optics 분광계는 수년 간 문제 없이 작동할 수 있도록 설계되었으나, 문제가 발생하는 경우에도 전세계 브루커 지사 및 영업사원 네트워크를 통해 사용자 니즈에 신속하게 대응합니다. Bruker Optics는 각 고객에게 전문적 설치 및 AS의 높은 기준을 약속합니다. 종합적인 지원을 위해 다양한 서비스 계약 패키지에 더해 원격 진단을 이용할 수 있습니다.

 

정기적인 고객 교육 외에도, 사용자의 니즈에 따라 전용 사내 세미나 및 현지 지원을 마련할 수 있습니다.

Application Support & Training