Dimension_Icon_AFM-Raman_527x245px.png

MFA com performance superior e recursos de Micro-Raman colocalizados

Incorporando o MFA líder de mercado e um microscópio Raman confocal voltado para pesquisa em uma única plataforma.

Com a introdução do recurso integrado de espectroscopia Raman, a plataforma Dimension Icon® da Bruker volta a definir o novo padrão de alta performance em caracterização de superfícies, permitindo medições colocalizadas com eficiência e facilidade superadas.

O sistema MFA-Raman reúne as técnicas complementares de microscopia de força atômica e microscopia Raman para gerar informações essenciais sobre a topografia e composição química da amostra.

A complementação dessas técnicas com recursos avançados de MFA, como os recursos de caracterização elétrica (PeakForce TUNA™) e de mapeamento nanomecânico quantitativo (PeakForce QNM®), exclusivos da Bruker, permite melhor entender os mecanismos que geram propriedades específicas.

Request More Information about the Dimension Icon-Raman

Related Information