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Difração de Raios X (XRD) e Espalhamento

Caracterização Não-Destrutiva das Propriedades dos Materiais

O portfólio de Difração de Raios X e Espalhamento da Bruker, permite uma análise detalhada de qualquer material, desde a pesquisa fundamental até o controle de qualidade na indústria, oferecendo soluções de alta tecnologia para nossos clientes. As aplicações destas técnicas qualitativas e quantitativas incluem:

  • Identificação de Fases
  • Análise quantitativa
  • Determinação da estrutura cristalina
  • Análise por PDF (espalhamento total)
  • Espalhamento de raios X à Baixo Ângulo (SAXS)
  • Reflectometria de raios X (XRR)
  • Difração de raios X de alta resolução (HRXRD)
  • Mapeamento do Espaço Recíproco (RSM)
  • Tensão residual
  • Textura (figuras de pólo)

 

Para mais informações, veja nosso arquivo em PDF no link: Difração de Raios X ou Contate-nos.