D8 ADVANCE, X-ray diffraction

D8 ADVANCE Plus

O D8 ADVANCE Plus combina a máxima flexibilidade com a incomparável facilidade de uso, atendendo perfeitamente às necessidades analíticas de filmes finos policristalinos e epitaxiais, amostras sólidas e em pó em condições ambientes e não ambientes.

Devido à ótica TWIN, a troca de geometria nos diferentes instrumentos é feita com o aperto de um único botão, de forma confiável, sem a intervenção do usuário.

  • Incomparável difração de pó, com geometria Bragg-Brentano
  • Excelente Resolução com alta intensidade em amostras epitaxiais
  • Difração de filmes finos policristalinos ideais em Geometria de Incidência Rasante
  • XRR para determinar a espessura de filmes de 0,1 nm até 250 nm

 

Leia mais sobre o D8 ADVANCE Plus no comunicado à imprensa.

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