VERTEX_80v-Kopie.jpg

ИК-Фурье спектрометры VERTEX 80/80v

В новой серии вакуумных ИК-Фурье спектрометров VERTEX 80v используется интерферометр UltraScan™ c системой активной компенсации колебаний подвижного зеркала, который обеспечивает максимальное спектральное разрешение. Исключительная точность и чувствительность достигается за счет использования сканирующей системы с пневматическими подшипниками и высококачественных оптических компонентов. Оптическая система VERTEX 80v вакуумирована, что исключает влияние атмосферной влаги и обеспечивает высокую чувствительность и стабильность работы, высокое разрешение, высокие скорости сканирования и возможность измерения в УФ-области спектра.


Спектрометры VERTEX 80/80v универсальны и обладают широким спектром возможностей анализа. Уникальная технология Bruker DigiTect™ предотвращает искажение сигнала, гарантирует высокое соотношение сигнал/шум и позволяет оператору быстро заменить детектор. Для установки детектора на горячих электронах и/или болометра, охлаждаемых жидким гелием,  есть возможность установки двух портов выхода излучения с держателями  дьюаров детекторов. При использовании в качестве источника охлаждаемой водой ртутной газоразрядной лампы, появляется возможность расширить рабочий диапазон до терагерцовых значений даже в сочетании с неохлаждаемым DTGS-детектором.

 

Широкий спектральный диапазон

Спектрометры VERTEX 80/80v могут быть укомплектованы дополнительными оптическими компонентами для расширения спектрального диапазона до следующих значений: от дальней инфракрасной или терагерцовой области до видимой и ультрафиолетовой. Благодаря интерферометру UltraScan™ и преднастроенным оптическим компонентам, оператор с легкостью меняет спектральные диапазоны.

BSCc s

ОПЦИЯ ВMS-c: Bruker предлагает опцию автоматической смены светоделителей для вакуумного спектрометра VERTEX 80v. Теперь возможна автоматическая смена четырех типов светоделителей внутри вакуумированого отсека оптики спектрометра. Спектрометр может работать в широком диапазоне, от ультрафиолетовой и видимой до дальней инфракрасной и терагерцовой области, без необходимости разгерметизации отсека оптики.  

NEW: Bruker расширил линейку светоделителей новым широкополосным светоделителем для ИК-Фурье спектрометров серии VERTEX 80/80v. В области исследований полупроводников и неорганических веществ новый светоделитель будет незаменим, поскольку он перекрывает диапазон от 900 см-1 до 5 см-1 и тем самым позволяет произвести регистрацию спектра в среднем ИК и дальнем/ТГц одним измерением.

 

Спектральное разрешение

В базовой конфигурации спектрометры VERTEX 80 и VERTEX 80v обладают аподизированным спектральным разрешением лучше чем 0,2 см-1, которого достаточно для исследования газов при атомосферном давлении и образцов при комнатной температуре.  При проведении  низкотемпературных исследований, например, кристаллических полупроводников или газов при пониженном давлении, необходимо работать при максимальном разрешении 0,06 см-1. Это самое высокое спектральное разрешение среди коммерчески доступных ИК-Фурье спектрометров.  Спектры высокого разрешения в видимой области демонстрируют разрешающую силу спектрометра (отношение волнового числа ν к спектральному разрешению ∆ν) более чем 300 000:1.

 

Универсальность

Спектрометры VERTEX выделяются среди исследовательских вакуумных ИК-Фурье спектрометров универсальностью, которую обеспечивает инновационная конструкция оптической системы. Вакуумирование последней исключает влияние атмосферной влаги на результаты и гарантирует высокую чувствительность в ближнем, среднем и дальнем ИК-диапазоне. Вакуумный ИК-спектрометр VERTEX 80v позволяет исследовать монослои и получать превосходные результаты. Благодаря высокой универсальности, для ваших исследований нет практически никаких ограничений. Оптический блок имеет пять портов входа излучения (на правой, левой и передней панели) и два порта выхода излучения (на правой и задней панели). Это позволяет одновременно подключить, например, источник синхротронного излучения, блок поляризационной модуляции PMA 50, оптоволоконный блок, болометр и ИК-Фурье микроскоп серии HYPERION.

Серия VERTEX 80 идеальна для решения сложных научно-исследовательских задач.

Свяжитесь с нами сегодня для получения более подробной информации о VERTEX 80/80v!


Используемые технологии защищены одним или несколькими патентами: US 7034944; US 5923422

 

 

 

Внешниие приставки, модули, источники и детекторы

Спектрометры VERTEX 80/80v оснащены пятью портами выхода излучения и двумя портами входа, что позволяет подключать их к внешним устройствам, лазерам и источникам синхротронного излучения. Дополнительно спектрометр может быть дооснащен внешними устройствами измерения, источниками и детекторами. Дополнительное оборудование включает:

  • Приставка для модуляции поляризованного излучения PMA 50 для исследований VCD и PM-IRRAS
  • Фотолюминесцентный модуль PL II
  • КР-Фурье модуль RAM II и КР-Фурье микроскоп RamanScope III
  • Модуль ТГА-ИК
  • ИК-Фурье микроскопы серии HYPERION
  • ИК-Фурье системы для имейджинга HYPERION 3000
  • Устройство высокопроизводительного скрининга HTS-XT
  • Устройство для имейджинга с матричным детектором IMAC
  • Внешнее кюветное отделение XSA, вакуумируемое или продуваемое
  • Внешний модуль для измерений при высоком вакууме
  • Вакуумный измерительный модуль PL/PT/PR
  • Криостаты, охлаждаемые гелием и замкнутого типа
  • Оптоволоконный модуль с датчиками среднего и ближнего ИК для анализа твердых веществ и жидкостей
  • Интегрирующие сферы
  • Устройства автоматической подачи образов
  • Внешний источник дальнего ИК, ртутная лампа
  • Уникальный широкополосный детектор MIR-FIR
  • Новый светоделитель ИК/ТГц
  • Модуль для эмиссионных измерений
  • Внешний источник среднего ИК-диапазона
  • Внешний источник видимого диапазона
  • Внешний вакуумируемый модуль для установки 4 дополнительных детекторов (для вакуумных приборов)
  • Болометр для измерений в дальнем ИК-диапазоне
  • Опция автоматической смены светоделителя (BMS-c) (для вакуумных приборов)

VERTEX 80 и VERTEX 80v – исследовательские приборы передового уровня, входящие в линейку VERTEX. Инновационная оптика делает их самыми мощными представленными на рынке настольными спектрометрами с продуваемой и вакуумированной системой. Они охватывают широчайший спектральный диапазон от УФ/видимой (50 000 см-1) до дальней ИК/терагерцовой области (5 см-1), отличаются максимальным спектральным и временным разрешением и непревзойденной гибкостью. Универсальная система VERTEX 80/80v благодаря высокоэффективной технологии станет подходящим решением для любых исследовательских работ высокой сложности.

 

 

Исследования и разработки

  • Технология непрерывного и пошагового сканирования для спектроскопии с амплитудной и фазовой модуляцией
  • Быстрое, пошаговое сканирование и сканирование с высоким временным разрешением (Step Scan/Rapid Scan/Interleaved TRS)
  • Характеризация периодически упорядоченных микроскопических материалов, также называемых метаматериалами
  • Спектроскопия высокого разрешения для анализа газов с разрешением лучше 0,06 см-1
  • Вакуумная ИК-Фурье спектроскопия синхротронного излучения
  • Методы исследования ферментативного катализа с прерыванием потока
  • Внешнее присоединение сверхвысоковакуумных камер
  • ИК-Фурье спектроэлектрохимия для исследований in-situ поверхности электродов и электролитов

 

 

Фармацевтика

  • Определение пространственной конфигурации молекул (VCD)
  • Характеристика стабильности и летучих соединений в составе лекарственных препаратов с помощью термического анализа (ТГА-ИК-Фурье)
  • Дифференциация полиморфов активных фармацевтических ингредиентов в дальнем инфракрасном диапазоне (Bruker FM)

Полимеры и химия

  • Идентификация неорганических наполнителей в полимерных композитах в дальнем инфракрасном диапазоне
  • Динамические и реооптические исследования полимеров
  • Определение летучих соединений и характеризация процессов разложения с помощью термического анализа (ТГА-ИК-Фурье)
  • Мониторинг реакции и контроль реакции (волоконный зонд MIR)
  • Идентификация неорганических минералов и пигментов

 

 

Анализ поверхностей

  • Обнаружение и характеризация тонких слоев и монослоев
  • Анализ поверхности в сочетании с модуляцией поляризации (PM-IRRAS)

 

 

Материаловедение

  • Характеризация оптических материалов, а также материалов с высокой отражающей способностью (окна, зеркала)
  • Исследование темных материалов и профилирование глубины методом фотоакустической спектроскопии (PAS)
  • Характеризация излучательной способности материалов

 

 

Полупроводники

  • Определение содержания кислорода и углерода в кремниевых пластинах
  • Низкотемпературные измерения пропускания и фотолюминесцентные исследования (PL) мелких примесей для контроля качества