X射线衍射 (XRD)

D8 DISCOVER Plus

功能最强大且最为精确的XRD解决方案,可理想地满足工业和学术界的研究、开发和质控要求。

远超您预期的XRD解决方案

HerostageD8DISCOVER

亮点

< 0.007° 2Ɵ
峰值位置精度
D8 DISCOVER Plus基于NIST标准参考材料SRM 1976,其整个角度范围享有布鲁克独有的准直保证。
160° 2ƟeNC
最佳面内衍射
布鲁克的非共面臂可为您提供具有无与伦比的角度范围和精度的面内衍射测量。
6 kW/mm²
XRD射线源:具有最高亮度的射线源
TXS-HE为其提供了6kW /mm²的X射线焦点,使之成为线焦点和点焦点应用的最佳选择。
布鲁克为您提供独有的位置、响应和分辨率的标准准直保证。
布鲁克独有的准直保证。

D8 DISCOVER Plus是市面上功能最强大、最全能的X射线衍射仪。

其核心在于高精度ATLAS测角仪,它具有高效的Turbo X射线源(TXS-HE)和市场领先的非共面臂。

它专为在环境条件下和非环境条件下,对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。

应用范围:

  • 定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析
  • X射线反射法、掠入射衍射(GID)、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析
  • 残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射(WAXS)
  • 总散射分析:Bragg衍射、对分布函数(PDF)、小角X射线散射(SAXS)

特点

主要功能

D8 DISCOVER Plus 功能

非共面臂

D8 DISCOVER Plus可配备非共面臂,以无与伦比的性能进行面内衍射测量。

  • 2θ可达160°,在测定d间距时,具有无与比拟的准确性。
  • 通过角度编码器,即可实现无可匹敌的精度。
  • 专用的光路组件,可提高测量强度,您甚至能够获取超薄多晶薄膜的信号。
  • 可与DIFFRAC.SUITE软件和DIFFRAC.DAVINCI无缝集成,从而最大限度地提高效率。
D8 DISCOVER Plus 功能

ATLAS™ 测角仪

在X射线衍射中,测角仪以及已安装组件的精确定向(尤其是测量时)是实现精准的样品分析的基础。ATLAS测角仪通过设计充分地满足了这些要求,并设定了角和空间精度的基准:

  • 坚固且免维护的测角仪
  • 带有高分辨率光学编码器的高精度步进电机
  • 受软件监控的精确接口,用于组件安装

测得的峰值位置和认证的峰值位置2Theta的角度偏差∆2Theta≤0.007°。这一点可通过使用单独仪器,以NIST认证的SRM1976标准进行测量来进行验证。

D8 DISCOVER Plus 功能

TXS-HE X射线源

不论X射线分析工具的关键指标是数据质量(定义为信噪比或信噪比-背景)还是样品吞吐量,更多的信号始终是一大优势。

高效Turbo X射线源(TXS-HE)旨在增强信号的同时,最大程度地减少阳极旋转技术相关的维护。

  • 强度是工业密封管的5倍
  • 线焦点:无与伦比的焦点亮度,即6 kW / mm2
  • 与光学器件的理想结合,可实现最大强度
  • 减少光路长度,从而最大限度地减少空气散射

应用

突破高级衍射

D8 DISCOVER Plus 应用

薄膜分析


共面衍射

在共面实验中,射线源和探测器相对于样品表面的角度有所加大,因此探测角度是进入样品表面的。

  • 掠入射衍射(GID):晶相表面灵敏识别及结构性质测定,包括微晶尺寸和应变。
  • X射线反射法(XRR):用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。
  • 掠入射小角X射线散射(GISAXS)

非共面衍射

在非共面实验中,射线源和探测器相对于样品表面的角度是固定的,检测器以平行于样品表面的方向移动,因此探测方向是沿着样品表面的。

  • 面内掠入射衍射(IPGID):可将穿透深度减至nm,从而实现表面隔离并提高对具有原子厚度的层的灵敏探测。
  • 多晶IPGID可测定面内晶粒尺寸
  • 外延IPGID可直接测定面内晶格参数和面内取向。
D8 DISCOVER Plus 应用

材料研究

ATLAS测角仪提高了分析的角度精度和实际空间定位的精度,实现了对样品的微区域的宏观测量。将对称发散的IµS与MONTELPlus和多模式EIGER2 R 500K探测器相结合,一款全新的衍射仪就面世了!其光束质量和检测能力与同步辐射光束线相似。

  • 掠入射衍射(GID):晶相表面灵敏识别及结构性质测定,包括微晶尺寸和应变
  • X射线反射率测量(XRR):用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。
  • 高分辨率X射线衍射(HRXRD):用于分析外延生长结构:层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。
  • 应力和织构(择优取向)分析
  • 广角X射线散射(WAXS)
D8 DISCOVER Plus 应用

粉末衍射


粉末衍射(XRPD)覆盖了大量取向度较低的样品应用。通过ATLAS测角仪,D8 DISCOVER Plus将XRPD的精准度推向了新水平。由于精度超出了业界领先的D8测角仪,分析人员可通过对D8 DISCOVER Plus,揭示未曾发现的、不起眼的结构细节。而配备TXS-HE,则可使D8 DISCOVER Plus以更快的速度收集XRPD数据:是传统的封闭X射线管系统的5倍。

而结合功能强大的DIFFRAC.SUITE软件,您将能轻松地使用D8 DISCOVER Plus处理PXRD应用:

  • 定性相分析
  • 定量相分析
  • 结构解决方案
  • 对分布函数分析(PDF)
  • 小角X射线散射(SAXS)

规格

D8 DISCOVER Plus 规格

  规格 优势
TWIST-TUBE

轻松在点焦点和线焦点之间切换

可用阳极材料:Cr、Cu、Mo、Ag

最高功率和灯丝:最高3 kW,取决于阳极材料(0.4 x 16mm²)

专利:EP 1 923 900 B1

快速改变波长,以理想地匹配不同应用

可以最快的速度在线焦点和点焦点之间切换,因此扩展了应用范围,并且可在更短的时间内,获得更好的结果。

Iµs 微焦源

功率负载:最高50 W,单相功率

MONTEL和MONTEL Plus光学器件:结合了平行镜和聚焦镜

光束尺寸:低至180 x 180 µm²

镜出口最大积分通量:8 x 10⁸ cps

光束发散度:低至0.5 mrad

毫米大小的光束:高亮度和超低背景

绿色环保设计:低功耗、无耗水、使用寿命更长

优化光束形状和发散,以获得最佳结果

TXS-HE X射线源

垂直ATLAS测角仪的紧凑轻巧设计

线焦点,0.3x3mm²

焦斑亮度为6 kW /mm²

阳极材料:Cu,Co,Cr,Mo

最高最大电压50 kV功率取决于阳极材料:Cr 3.2 kW,Cu / Mo 5.4 kW,Co 2,8 kW

预对准钨丝

高通量X射线源,允许水平安装样品。

强度是标准陶瓷X射线源的5倍

是线焦点和点焦点应用的理想之选

预对准的灯丝支持快速更换,极大地降低了对重新对准的要求。

TRIO Optics

软件按钮切换:

电动发散狭缝(Bragg-Brentano)

高强度Ka1,2平行光束

高分辨率Ka1平行光束

专利:US10429326、US6665372、US7983389

可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换,无需人工干预

是所有类型的样品的理想之选,包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)

高分辨率单色器

对称几何和非对称几何中的Ge(220)和Ge(004)反射

2-b和4-b(Bartels型)单色器

利用SNAP.LOCK技术,进行免对准安装

在最佳分辨率与强度平衡方面,为您提供广泛选择,助您获取最佳结果

可快速更换单色仪,针对不同样品进行优化

ATLAS™测角仪

立式测角仪,采用强化的机械设计,面向的是TXS-HE X射线源

业界领先的角度精度:在NIST SRM 1976确定的整个角度范围内,保证±0.007°2θ

无缝集成D8系列组件:包括光学器件、定位摄像头、样品台、非环境和探测器技术

布鲁克独有的准直保证,为无与伦比的精确度提供了保证

绝对免维护的驱动机构/齿轮装置,终身润滑

支持所有应用程序,以生成最高精度的数据

非共面臂

第三测角仪轴,用于研究超薄层和面内样品特性:

最小步长:0.001°

最高2θ范围(取决于配置):160°

探测器自动距离检测

通过角度编码器,即可获得无与伦比的精度

与DIFFRAC.SUITE软件无缝集成

范围高达160°2θ,可最准确地测定非共面结构

EIGER2探测器提供实时校准

紧凑的UMC样品台

Compact UMC Plus 80:

XRPD快速旋转器

最大(x, y)移动:+/- 40毫米

最高样品高度:57毫米

Compact UMC Plus 150:

最高(x, y)移动:+/- 75毫米

最高样品高度:57毫米

用于硅片夹和倾斜台的真空和电力通孔

可在薄膜研究和粉末衍射模式之间无缝切换

5位进样器:样品直径为51 mm

9位自动进样器:样品直径为32mm

扫描2-4英寸晶圆

扫描6-8英寸晶圆

反射模式:96孔板

在连接倾斜样品台和真空样品台的情况下,可不受限制地进行Phi旋转,而无需考虑电缆或真空管路。

Centric Eulerian Cradle (CEC)

样品台:5个自由度

x、y:+/- 40 mm样品移动

z:高度对准

Phi:360°旋转

Psi:-11°-98°

最高承载重量:1kg

提供各种样品台附件

侧面倾斜时可进行应力和织构测量,以获取更高的精度。

(x,y):自动映射功能。

电动倾斜台:可精确对准表面。

粉末或毛细管旋转器:可用于粉末衍射。

Bayonette样品台支持器:可与其他样品台快速、可重复地互换。

Pathfinder Plus Optics

软件按钮切换:

电动狭缝

2-b Ge分析晶体

集成自动吸收器

可在两种不同的光学器件之间全自动地进行电动切换,无需人工干预。

保持了LYNXEYE探测器的完整视野。

利用吸收器,确保了测得数据的线性。

LYNXEYE XE-T

能量分辨率: 8 KeV时,<380 eV

检测模式:0D、1D、2D

波长:Cr、Co、Cu、Mo和Ag

专利:EP1647840、EP1510811、US20200033275

无需Kß过滤器和二级单色仪

铜辐射即可100%过滤铁荧光

速度比传统探测器系统快450倍

Bragg2D:使用发散的初级线束收集2D数据

独一无二的探测器保修:交货时绝无不良通道 

EIGER2 Dectris Ltd.开发的基于混合光子计数技术的新一代探测器,支持多种模式(0D / 1D / 2D)。

在分步扫描、连续扫描和高级扫描模式种无缝集成0D、1D和2D检测。

符合人体工程学的免对准探测器旋转功能,可优化γ或2Ɵ角度范围

使用完整的探测器视野、免工具全景衍射光束光学系统 

连续可变的探测器位置,以平衡角度范围和分辨率

非环境

温度:范围从~-4 K到~2500 K

压力:10-⁴mbar至100 bar

湿度:5%至95%

在环境和非环境条件下进行调查

凭借DIFFRAC.DAVINCI,轻松更换样品台

附件

XRD 组件

XRD 组件

Bruker XRD解决方案包含一系列为满足分析要求配置的高性能组件。模块化设计是打造最佳仪器的关键所在。

各类组件都是布鲁克核心竞争力的组分部分,它们由布鲁克AXS开发或制造而成,或通过与第三方供应商密切合作而得。

布鲁克XRD组件可用于升级现有的X射线系统,用于提高其性能。

网络研讨会

支持

服务与支持

我们提供:

  • 高技能故障排除专业人员的技术支持,用于隔离和解决硬和软件问题
  • 基于 Web 的远程仪器服务,用于服务诊断和应用支持
  • 合并的现实支持 – 虚拟工程师在您身边 (视频
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