2D 材料和纳米光子
独特的功能，以特征纳米级光学，化学和材料性能的新二D和量子材料
2D 材料和纳米光子为各种新应用提供了令人兴奋的材料研发领域。 nanoIR3-s 散射SNOM（s-SNOM）平台提供了独特的功能，能够描述各种新型二维和量子材料的纳米级光学、化学和材料特性。应用包括：
- 表面极性
- 2D 材料，包括石墨烯
- 纳米光子
- 光学天线
- 纳米级光学特性
hbn Phonon- 极性
六边形氮化铀（hBN）表面假星极性（SPhP）的纳米成像。（a） AFM高度图像，显示在Si基板上具有不同层的均匀hBN表面;（b） s-SNOM 振幅显示由于沿 hBN 表面传播 SPHP 而导致的强干扰边缘;（c） s-SNOM 相位显示具有交替层厚度的差异相位。图像 （b） 和 （c） 显示各层中 SPhP 不断变化的波长。
石墨烯
石墨烯楔子上的表面极性（SPP）的s-SNOM相位和振幅图像。3D 视图相位图像（左图）、s-SNOM 相位图像（中图），具有 SPP 站立波的线横截面和 s-SNOM 振幅图像（右）。
2D 元材料
将 S-SNOM 和 AFM-IR 相结合，创造出非凡的新数据：互补的 AFM-IR 和散射 SNOM 图像首次揭示了光学奇性在表面结构上的微尺度起源。通过访问关于质的结构的辐射 （s-SNOM） 和非辐射 （AFM-IR） 信息，可以获得独特且互补的质质属性。Khanikaev等人，Nat.Comm.7，12045（'16）。Doi：10.1038/ncomms12045
阅读更多
纳诺坦特斯
nanoIR3-s 提供 s-SNOM 振幅（底部）;s-SNOM 相（顶部） NanoIR3-s 使用 s-SNOM 模式与 POINTspectra CW QCL 激光源。
纳米FTIR光谱
超快宽带散射SNOM光谱探测分子振动信息。聚四氟乙烯（PTFE）的激光干涉图显示时域中自由感应衰变形式的相干分子振动（顶部）。样品干涉图中突出显示的特征是由于在生成的频域（左下）中C-F模式的对称和反对称模式的跳动。在单层 pNTP（右下）上演示了纳米 FTIR 的单层灵敏度。数据由美国博尔德科罗拉多大学的马库斯·拉施克教授提供。
纳米FTIR光谱
AFM-IR 光谱和溶液处理的 CH₃NH₃PbI₃ 光电检测器的图像收集为沉积 （c，d） 和退火后在 140° C （e，f）.高度图像（上行）和相应的 AFM-IR 图像（下行）。图片由董，R.，方等人提供，（2015年），Adv.Mater.，27：1912-1918年。
多层尼龙和PE样品的S-SNOM成像
s-SNOM可用于测量多层聚合物薄膜。在这里，尼龙的吸收带为1640和1540厘米⁻1。随后在 1640 cm 时进行 s-SNOM 成像⁻1 显示了尼龙层和 PE 层之间的对比度。示例由 DSM 提供。
