纳米级红外光谱仪

Anasys nanoIR3-s 纳米扫描近场光学成像系统

高性能的 s-SNOM 和 AFM 成像
Anasys nanoIR3-s

高亮

Anasys nanoIR3-s

布鲁克Anasys的 nanoIR3-s 系统将散射扫描近场光学显微镜(s-SNOM)、纳米级红外光谱(AFM-IR)与原子力显微镜(AFM)完美整合到单一平台。依托 Anasys 技术在 AFM 纳米光学表征方面的领先地位,nanoIR3-s 可提供纳米级红外光谱、化学成像和光学成像,在 2D 材料样品上实现 10 纳米空间分辨率。该系统还可以提供达到纳米级分辨率的 AFM 形貌和性能成像,因此是对各种材料科学应用开展相关性研究的理想仪器。

宽带
纳米 FTIR 光谱
可用于开展以前无法实现的飞秒纳米级红外研究。
互补性
s-SNOM 和 AFM-IR 技术
单一平台实现纳米级化学成像和光学成像。
高分辨率
原子力显微镜
提供相关的电学、机械性能和热物性数据。

10nm 空间分辨率化学成像和光谱

石墨烯等离子体

石墨烯等离子体:石墨烯楔上表面等离极化激元(SPP)的 s-SNOM 相位和振幅图像。(左图)s-SNOM 相位与 SPP 驻波线型截面;(右图) s-SNOM 振幅。上图是相位图的 3D 视图(左图)。

高分辨性能成像

高分辨性能成像:通过石墨烯片的横截面显示了 10nm 以下分辨率的光学属性成像。

高性能纳米级 FTIR 光谱

超快宽带s-SNOM光谱,探测分子振动信息。聚四氟乙烯(PTFE)激光干涉图显示,时域(上图)内发生自由感应衰减形式的相干分子振动。样品干涉图中突出显示特征的形成原因是,C-F 模式的对称模式和反对称模式在所产生的频域跳动(左下图)。单层 pNTP(右下图)上展示了纳米级 FTIR 的单层灵敏度。数据提供:Markus Raschke 教授,美国科罗拉多大学博尔德分校。

只有 nanoIR3-s 能够提供:

  • 高性能纳米级 FTIR 光谱
  • 高性能红外近场光谱,采用目前最先进的纳米红外激光源
  • 纳米级 FTIR 光谱,采用集成式DFG,可与宽带同步辐射光源集成
  • 适用于光谱和化学成像的多芯片 QCL 激光源

点光谱技术

POINTspectra 激光器可执行多个波长的光谱分析和高分辨光学成像。nanoIR3-s让测试更加简单:

  1. 在 AFM 图像中选择要测量的特征
  2. 测量样品的波谱,选择感兴趣的波长
  3. 采集高分辨光学属性图
根据对多个波长的干涉图的快速测量,获得空间分辨率达到 10nm 的振幅和相位图像     实现 10nm 分辨率Tapping AFM-IR,用于独特的互补性红外光谱分析。

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