나노스케일 적외선 분광계

Anasys nanoIR3-s

고성능 S-SNOM 및 AFM 이미지
Anasys nanoIR3-s

하이라이트

Anasys nanoIR3-s

브루커의 Anasys nanoIR3-s 시스템은 주사광학현미경(s-SNOM)과 나노스케일 IR 분광법(AFM-IR)을 통합 원자력 현미경(AFM)과 결합하며, 이 모든 것을 단일 플랫폼에서 지원합니다. AFM 기반 나노 광학 특성화에서 Anasys의 우수한 기술을 이용해 nanoIR3-s는 2D 물질 샘플측정에서 입증된 10나노미터 이하의 공간 해상도를 가지고 나노스케일 IR 분광법, 화학적 이미징 그리고 광학 특성 매핑을 제공합니다. 또한 이 시스템은 나노미터 크기의 해상도로 AFM 표면 이미징 및 재료 특성 이미지를 가능하게 하여 광범위한 재료 과학 응용 분야에서 관련 연구를 위한 이상적인 장비입니다.

광대역
nano-FTIR 분광법
이전에는 얻을 수 없었던 femtosecond나노스케일 적외선 연구를 제공합니다.
상호보완적
s-SNOM 및 AFM-IR 기법
하나의 장비에서 나노스케일 화학 및 광학 특성 이미지를 지원합니다.
고해상도
원자력 현미경 검사법
상관 관계가 있는 전기, 기계 및 열 데이터를 제공합니다.

특징

10nm의 공간 해상도의 화학 이미지 및 분광법

그래핀 플라즈모닉스

그래핀 플라스모닉: 그래핀 플라즈모닉스 : 그래핀 웨지의 s-SNOM 상 및 표면 플라즈몬 플라리톤(SPP) 진폭 이미지. (왼쪽) SPP정상파의 선 횡단면이 포함된 s-SNOM상, (오른쪽) s-SNOM 진폭. 맨 위의 이미지는 3D 형태로 본 상 이미지를 3D 형태로 본 것입니다.

고해상도 특성 이미지화

그래핀 플레이크를 통과하는 횡단면은 sub 10nm 이하의 해상도의 광학적 특성 영상을 보여줍니다.

고성능 Nano FTIR 분광법

분자 진동 정보를 측정할 수 있는 초고속 광대역 산란 SNOM 분광법 PTFE(Polytetrafluoroethylene)의 레이저 인터페로그램은 시간 영역에서 자유 유도 감소의 형태로 간섭성 분자 진동을 표시합니다(맨 위). 시료 인터페로그램의 강조 표시한 특성은 주파수 영역 C-F 모드의 대칭 및 반 대칭 모드의 비팅(beating) 때문입니다(왼쪽 아래). Nano-FTIR의 단분자층 감도가 단분자층 pNTP에 표시됩니다(오른쪽 아래). 데이터 제공 : 미국 볼더 소재 콜로라도 대학교 Markus Raschke 교수

오직 nanoIR3-s에서 제공하는 기능은 다음과 같습니다.

  • 고성능의 nano FTIR 분광법
  • 최첨단 NanoIR 레이저 광원을 지원하는 고성능의 IR SNOM 분광법
  • DFG laser를 이용한 nano FTIR 분광법, 연속체 기반 레이저 광원 광대역 싱크로트론 광원 통합
  • 분광법 및 화학 이미지용 멀티칩 QCL 레이저 광원

POINTspectra 기술

POINTspectra 레이저는 광범위한 파장에 걸친 분광법과 고해상도 광학 특성 이미지화를 모두 지원합니다. nanoIR3-s를 사용하면 상관 관계 데이터를 생성하는 간단한 작업이 가능합니다.

  1. AFM 이미지에서 측정할 특성을 선택합니다.
  2. 시료의 분광법을 측정하고, 관심 있는 파장을 선택합니다.
  3. 고해상도 광학 특성 이미지화를 생성합니다.
진폭과 10nm 이하의 공간 해상도 이미지는 광범위한 파장에 걸쳐 인터페로그램으로부터 신속하게 측정됩니다. 상호 보완적인 IR분광법을 위한 10nm 해상도 Tapping AFM-IR을 지원합니다.

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