Anasys nanoIR3-s
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Anasys nanoIR3-s
Das nanoIR3-s-System kombiniert streunende Scanning-Nahfeld-Optikmikroskopie (s-SNOM) und nanoskalige IR-Spektroskopie (AFM-IR) mit einem integrierten Atomkraftmikroskop (AFM) in einer einzigen Plattform. Aufbauend auf dem Vermächtnis der Anasys-Technologieführerschaft in der AFM-basierten nanooptischen Charakterisierung bietet nanoIR3-s nanoskalige IR-Spektroskopie, chemische Bildgebung und optische Eigenschaftskartierung mit 10-Nanometer-Raumauflösung, die auf 2D-Materialproben demonstriert wird. Das System ermöglicht auch AFM-Topografische Bildgebung und Materialeigenschaftenkartierung mit einer Auflösung von Nanometern und ist damit ein ideales Instrument für korrelierte Studien in einer Vielzahl von materialwissenschaftlichen Anwendungen.