El sistema Anasys nanoIR3 de Bruker combina la microscopía óptica de campo cercano (s-SNOM) de escaneo de dispersión y la espectroscopia IR a nanoescala (AFM-IR) con un microscopio de fuerza atómica integrado (AFM), todo en una sola plataforma. Basándose en el legado del liderazgo tecnológico de Anasys en la caracterización nanoótmica basada en AFM, nanoIR3-s proporciona espectroscopia IR a nanoescala, imágenes químicas y mapeo óptico de propiedades con resolución espacial de 10 nanómetros demostrada en muestras de material 2D. El sistema también permite la toma de imágenes topográficas AFM y el mapeo de propiedades de materiales con resolución a escala de nanómetros, lo que lo convierte en un instrumento ideal para estudios correlativos en una amplia gama de aplicaciones de ciencia de materiales.
Sólo nanoIR3-s proporciona:
Los láseres POINTspectra permiten la espectroscopia y la asignación de propiedades ópticas de alta resolución en una amplia gama de longitudes de onda. Con nanoIR3-s es una tarea sencilla generar datos correlacionados: