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Espectrometro infrarrojo a nanoescala

Anasys nanoIR3-s

Imágenes s-SNOM y AFM de mayor rendimiento
Anasys nanoIR3-s

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Anasys nanoIR3-s

El sistema Anasys nanoIR3 de Bruker combina la microscopía óptica de campo cercano (s-SNOM) de escaneo de dispersión y la espectroscopia IR a nanoescala (AFM-IR) con un microscopio de fuerza atómica integrado (AFM), todo en una sola plataforma. Basándose en el legado del liderazgo tecnológico de Anasys en la caracterización nanoótmica basada en AFM, nanoIR3-s proporciona espectroscopia IR a nanoescala, imágenes químicas y mapeo óptico de propiedades con resolución espacial de 10 nanómetros demostrada en muestras de material 2D. El sistema también permite la toma de imágenes topográficas AFM y el mapeo de propiedades de materiales con resolución a escala de nanómetros, lo que lo convierte en un instrumento ideal para estudios correlativos en una amplia gama de aplicaciones de ciencia de materiales.

Banda ancha
espectroscopia nano-FTIR
Proporciona investigación infrarroja a nanoescala de femtosegundo inalcanzable anteriormente.
Complementarios
Técnicas s-SNOM y AFM-IR
Permite el mapeo de propiedades químicas y ópticas a nanoescala en una sola plataforma.
Alta resolución
microscopía de fuerza atómica
Proporciona datos eléctricos, mecánicos y térmicos correlacionados.

Características

10nm Resolución Espacial De Imágenes Químicas y Espectroscopia

Plasmónicos de grafeno

Plasmónico de grafeno: imágenes de fase y amplitud s-SNOM de plasmon polariton superficial (SPP) sobre una cuña de grafeno. (izquierda) fase s-SNOM con una sección transversal de línea de la onda de pie SPP; (derecha) amplitud s-SNOM. La imagen superior es una vista 3D de la imagen de fase (izquierda).

Asignación de propiedades de alta resolución

Asignación de propiedades de alta resolución: la sección transversal a través de la escama de grafeno muestra imágenes de propiedades ópticas de resolución de menos de 10 nm.

Espectroscopia Nano FTIR de alto rendimiento

Espectroscopia SNOM de dispersión de banda ancha ultrarrápida que sondea información vibracional molecular. El interferograma láser de politetrafluoroetileno (PTFE) muestra una vibración molecular coherente en forma de descomposición de inducción libre en el dominio del tiempo (arriba). La característica resaltada en el interferograma de muestra se debe a la paliza del modo simétrico y antisimétrico de los modos C-F en el dominio de frecuencia resultante (abajo a la izquierda). La sensibilidad monocapa de nano-FTIR se demuestra en un pNTP monocapa (abajo a la derecha). Datos cortesía del Prof. Markus Raschke, Universidad de Colorado, Boulder, ESTADOS Unidos.

Sólo nanoIR3-s proporciona:

  • Espectroscopía nano FTIR de mayor rendimiento
  • Espectroscopia IR SNOM de mayor rendimiento con la fuente láser nanoIR más avanzada disponible
  • espectroscopia nano FTIR con DFG integrado, fuente láser basada en continuo Integración de fuente de luz sincrotrón de banda ancha
  • Fuente láser QCL multi chip para espectroscopia e imágenes químicas

Tecnología POINTspectra

Los láseres POINTspectra permiten la espectroscopia y la asignación de propiedades ópticas de alta resolución en una amplia gama de longitudes de onda. Con nanoIR3-s es una tarea sencilla generar datos correlacionados:

  1. Seleccione la función que se va a medir en la imagen de AFM
  2. Mida la espectroscopia de la muestra y seleccione la longitud de onda de interés
  3. Crear mapa de propiedades ópticas de alta resolución
Las imágenes de resolución espacial de 10 nm de amplitud y fase se miden rápidamente a partir de interferogramas en un rango de longitudes de onda Habilita la resolución de 10 nm Tapping AFM-IR para espectroscopía IR única y complementaria.

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