Le système Anasys nanoIR3 de Bruker combine la microscopie optique à balayage de près de champ (s-SNOM) et la spectroscopie IR à l’échelle nanométrique (AFM-IR) avec un microscope à force atomique intégré (AFM), le tout en une seule plate-forme. S’appuyant sur l’héritage du leadership technologique d’Anasys dans la caractérisation nano-optique basée sur l’AFM, les nanoIR3-s fournissent la spectroscopie IR à l’échelle nanométrique, l’imagerie chimique et la cartographie optique des propriétés avec une résolution spatiale de 10 nanomètres démontrée sur des échantillons de matériaux 2D. Le système permet également l’imagerie topographique de l’AFM et la cartographie des propriétés matérielles avec résolution à l’échelle nanométrique, ce qui en fait un instrument idéal pour les études corrélatives dans un large éventail d’applications des sciences des matériaux.
Seuls les nanoIR3-s fournissent :
Les lasers POINTspectra permettent à la fois la spectroscopie et la cartographie optique à haute résolution des propriétés sur un large éventail de longueurs d’onde. Avec nanoIR3-s, il est simple de générer des données corrélées :