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Spectromètre infrarouge à l’échelle nanométrique

Anasys nanoIR3-s

Imagerie s-SNOM et AFM les plus performantes

Faits marquants

Anasys nanoIR3-s

Le système Anasys nanoIR3 de Bruker combine la microscopie optique à balayage de près de champ (s-SNOM) et la spectroscopie IR à l’échelle nanométrique (AFM-IR) avec un microscope à force atomique intégré (AFM), le tout en une seule plate-forme. S’appuyant sur l’héritage du leadership technologique d’Anasys dans la caractérisation nano-optique basée sur l’AFM, les nanoIR3-s fournissent la spectroscopie IR à l’échelle nanométrique, l’imagerie chimique et la cartographie optique des propriétés avec une résolution spatiale de 10 nanomètres démontrée sur des échantillons de matériaux 2D. Le système permet également l’imagerie topographique de l’AFM et la cartographie des propriétés matérielles avec résolution à l’échelle nanométrique, ce qui en fait un instrument idéal pour les études corrélatives dans un large éventail d’applications des sciences des matériaux.

Large bande
spectroscopie nano-FTIR
Fournit des recherches infrarouges à l’échelle nanométrique auparavant inaccessibles.
Complémentaires
techniques s-SNOM et AFM-IR
Permet la cartographie des propriétés chimiques et optiques à l’échelle nanométrique sur une seule plate-forme.
Haute résolution
microscopie à force atomique
Fournit des données électriques, mécaniques et thermiques corrélées.
Télécharger la feuille de données

Caractéristiques

Imagerie chimique et spectroscopie chimiques à résolution spatiale de 10nm

Plasmonique de graphène

Plasmonique de graphène : images de phase et d’amplitude de la phase s-SNOM et d’amplitude du polariton plasmon de surface (SPP) sur un coin de graphène. (à gauche) s-SNOM avec une section transversale de la vague debout SPP; (droite) amplitude s-SNOM. L’image supérieure est une vue 3D de l’image de phase (à gauche).

Mappage de propriétés haute résolution

Cartographie des propriétés haute résolution : la section transversale à travers le flocon de graphène montre l’imagerie optique de propriété de sous 10nm.

Spectroscopie Nano FTIR de performance la plus performante

Spectroscopie SNOM ultrarapide-à large bande sondant l’information vibratoire moléculaire. L’interférogramme laser du polytétrafluoroéthylène (PTFE) montre des vibrations moléculaires cohérentes sous forme de décomposition à induction libre dans le domaine du temps (en haut). La caractéristique mise en évidence dans l’interférogramme d’échantillon est due au battement du mode symétrique et antisymétrique des modes C-F dans le domaine de fréquence résultant (en bas à gauche). La sensibilité de monocouche du nano-FTIR est démontrée sur un pNTP monocouche (en bas à droite). Données gracieuseté du Professeur Markus Raschke, Université du Colorado, Boulder, États-Unis.

Seuls les nanoIR3-s fournissent :

  • Spectroscopie nano FTIR de haute performance
  • Spectroscopie IR SNOM de haute performance avec la source laser nanoIR la plus avancée disponible
  • spectroscopie nano FTIR avec DFG intégrée, source laser à base de continuum Intégration de la source lumineuse synchrotron à large bande
  • Source laser QCL multi-puces pour spectroscopie et imagerie chimique

POINTspectra Technology

Les lasers POINTspectra permettent à la fois la spectroscopie et la cartographie optique à haute résolution des propriétés sur un large éventail de longueurs d’onde. Avec nanoIR3-s, il est simple de générer des données corrélées :

  1. Sélectionner la fonctionnalité à mesurer dans l’image AFM
  2. Mesurer la spectroscopie de l’échantillon et sélectionner la longueur d’onde d’intérêt
  3. Créer une carte de propriétés optiques haute résolution
10nm images de résolution spatiale de l’amplitude et la phase sont rapidement mesurées à partir d’interférogrammes sur une gamme de longueurs d’onde Permet de résolution 10nm Tapping AFM-IR pour la spectroscopie IR complémentaire et unique.

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