AFM 模式

导电 AFM (C-AFM)

高分辨率电流和地形图

研究人员为一系列研究和工艺绘制了导电率的变化图,包括电缺陷特性和导电聚合物、半导体、纳米管,甚至某些有机材料的研究。

导电AFM(C-AFM)以及隧道AFM(TUNA)和峰值力TUN卡™的相关模式是强大的电流感应技术,代表了布鲁克的纳米电特性模式阵列的一部分。

C-AFM 是一种从接触模式派生的二次成像模式,它的特点是中低传导和半导体材料之间的电导率变化。它用于测量和映射 2pA 到 1μA 范围内的电流,同时收集地形信息。

借助多模8的峰力隧道AFM(峰值力TUN卡)模块中的导电原子力显微镜(C-AFM)分析,我们得以了解掺杂半导体的定位特定纳米级电导率。这使我们探索了许多纳米级新材料及其电子特性。过去三年来,我们一直在使用多模式8,我必须说,这个仪器是真正强大和强大的。

印度理工学院(IIT)甘地纳加尔博士