开尔文探针力显微镜(KPFM）
对各种样品进行高空间分辨率的表面电位测量
金属和半导体纳米结构可用于从生物传感器到太阳能电池的各类设备中。因为纳米结构、表面和设备的表面电位会对局部的化学和物理现象产生强烈的影响，研究人员对分析这些性能很感兴趣，。开尔文探针力显微镜（KPFM）可以对各种样品进行高分辨率的表面电位和形貌成像。
布鲁克提供了两种基于TappingMode™技术的KPFM模式：
- KPFM（也称为表面电位模式）—振幅调制 KPFM 以探针振荡的振幅变化为反馈
- KPFM-FM: 频率调制 KPFM以探针振荡的频率变化为反馈
PeakForce KPFM™附件包括上述 KPFM 模式，以及基于布鲁克专利技术PeakForce Tapping®的强大 KPFM 模式。
激光二极管的形貌和表面电位的合成图像。扫描尺寸 8μm。