扫描隧道显微镜 （STM）
导电样品可达原子分辨率
IBM 于 1980 年代开发了扫描隧道显微镜(STM)，发明人Gerd Binnig 和 Heinrich Rohrer 因该成果荣获 1986 年诺贝尔物理学奖。该技术为后来进一步发展到原子力显微镜(AFM)奠定了基础。STM 采用隧穿电流来测量表面电子状态的形貌，其隧穿电流取决于探针针尖与样品表面之间的距离。
STM 通常用于导体和半导体表面测量。常见应用包括原子分辨率成像、扫描电化学电位显微镜(SECPM)以及对导电性不良的样品进行低电流成像。
铜在金(111)表面的欠电位沉积的原位原子分辨率电化学 STM 图像