扫描电镜联用纳米力学测试系列

Hysitron PI 85E

在扫描电镜内扩展原位纳米力学测试的设备
原位纳米力学测试设备

Hysitron PI 85E用于SEM的纳米力学测试设备

Hysitron PI 85E扫描电镜用纳米压痕仪扩展了原位力学测试的范围,弥补了纳米级和微米级表征之间的差距。这台深度传感纳米力学测试系统专门设计,利用扫描电子显微镜(SEM、FIB/SEM、PFIB)的先进成像能力,同时进行定量纳米力学测试。设备扩展的加载范围使研究人员能够准确测试尺寸较大或坚硬的结构。这些结构需要更大的载荷才能引起失效或断裂。PI 85E纳米压痕仪提供大量材料(从金属和合金到陶瓷、复合材料和半导体材料)的压痕、压缩、拉伸和疲劳测试。PI85E紧凑、低轮廓的架构使其非常适合小腔室SEM、拉曼和光学显微镜、光束线等。

模块化
核心测试模块
提供纳米压痕、压缩、拉伸、压转拉(PTP)、电压转拉(EPTP)、纳米动态力学和电表征模块。
多功能
SEM附件
实现多方面的可信赖测量
扩展性
载荷量程
提供本征位移控制,位移量程从<1nm到100µm,载荷量程从<1µN到200mN,还有78kHz的反馈速率和39kHz的数据采集率,用于瞬态事件的观测。

纳米压痕仪:高精度原位力学测试

表征近表面、界面和局部微结构以及薄膜的硬度、蠕变、应力松弛、弹性模量和断裂韧性。

大形变下的行为探索

碳纳米管(CNT)的形变

Hysitron PI 85E结合了各种测试模式,以表征各种样品的基本力学性能、应力-应变行为、刚度、断裂韧性和变形机制。除了布鲁克行业标准的传感器外,PI 85E还提供更高的载荷(250 mN)和更大的位移(150µm)。基于先进控制器实现高带宽的传感器,实现大尺度样品的优化测试,并提供了卓越的性能和灵敏度。

表征一维、二维及三维纳米结构

电拉伸模块下氧化锌纳米线的形变

Hysitron PI 85E系统使用获得专利的压转拉(PTP)模块来表征一维结构,如纳米线和纳米管,以及二维结构,如独立薄膜。这些结构也可以通过仪器的可选电拉伸模块进行电表征。PI85E的大位移范围对于测试三维晶格在较大应变下的变形也是理想的。

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