software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

POLYSNAP Merkmale

Verschiedene Datensätze, verschiedene Verfahren

  • Importieren Sie verschiedene Datentypen für denselben Probensatz - sammeln Sie z. B. PXRD-, Raman- und DSC-Daten zu Ihren neuen Proben - und vergleichen Sie dann die Ergebnisse der einzelnen Verfahren. Stimmen die Ergebnisse miteinander überein? Widersprechen sie sich?
  • Führen Sie die Ergebnisse aus mehreren Verfahren zusammen, um sich einen Überblick über Ihre Daten zu verschaffen. Eine solche kombinierte Analyse erleichtert die Erkennung von Unstimmigkeiten bei einzelnen Datensätzen, was mit einer einzigen Datenquelle nicht möglich ist.
  • Sammeln und analysieren Sie mehrere Instanzen desselben Datentyps, z. B. PXRD-Daten zu verschiedenen Zeiten oder bei unterschiedlichen Druck- oder Temperaturwerten.
  • Untersuchen Sie einen einzigen Datensatz mit verschiedenen Verarbeitungsoptionen und vergleichen Sie die Effekte der Hintergrundsubtraktion oder wenden Sie unterschiedliche Ableitungsmethoden auf die Daten an.

Mustererkennung

  • Arbeiten mit bis zu vier verschiedenen Datensätzen gleichzeitig pro Analyse.
  • PolySNAP generiert automatisch alle möglichen Kombinationen des gelieferten Datensatzes für weitere Analysen.
  • Einzelne Untersuchung oder Kombination von Datensätzen, um sich einen Überblick zu verschaffen.
  • Jeder Datensatz kann bis zu 1.500 Proben enthalten.
  • Importieren von Daten aus den Dateiformaten PXRD RAW, Powder-CIF, ASCII, CSV, Raman SPC, Opus und aus anderen gängigen Formaten
  • Import von numerischen Rohdaten - Schmelzpunkte oder auch Distanz-/Winkeldaten
  • Einbindung zusätzlicher Informationen zur Probenpräparation: Lösungsmittel, Zeiten, Druckwerte, etc.
  • Automatischer Vergleich aller Muster.
  • Automatische Markierung von Ausreißermustern und Gruppierung von ähnlichen Mustern
  • Abgleich eines ausgewählten Musters mit einer benutzerdefinierten Datenbank
  • Anzeige der Vorschau für einen großen Datensatz (>100.000 Proben) innerhalb von Minuten, um die relevantesten Muster für einen neue Unbekannte zu ermitteln und mit diesen zu arbeiten

Datenauswertung

  • Hintergrundsubtraktion durch Fitting eines Polynoms n-ter Ordnung
  • Rauschminderung durch moderne Wavelet-Glättung
  • Maskierung unerwünschter 2theta-Regionen zur Beseitigung von Unreinheiten oder internen Standard-Peaks
  • Auswahl der Peak-Position
  • Verfeinerbare x-Offset-Parameter zur Berücksichtigung von unterschiedlichen Geräten und Probenhöhen
  • Fähigkeit zur Anwendung von Fourier- und Ableitungsmethoden
  • Angabe von Referenzphasen zum Vergleich mit neuen Proben

Datenanzeige und Analyseoptionen

  • Farbcodierte Zellanzeige (z. B. mit Probenhalterlayout oder Pass/Fail-Raster)
  • Farbcodiertes Kreisdiagramm zur Darstellung der Ergebnisse von quantitativen Gemischanalysen
  • Miniaturansicht von Musterprofilen; farbige Kennzeichnung von Ähnlichkeitsgruppen
  • Interaktive Dendogrammanzeige für Ähnlichkeitsanalysen
  • Vollständig interaktive, drehbare 3D-Zeichnungen Verklumpung verschiedener Proben aus demselben Material sichtbar; stark unterschiedliche oder amorphe Proben werden als offensichtliche Ausreißer angezeigt
  • Modifizierte 3D-Zeichnung zur zusätzlichen Anzeige von Informationen zur Probenpräparation (z. B. Lösungsmittel, Reaktionszeiten, etc.) anhand von verschiedenen Punktfarben, Formen, Größen, etc.
  • Überlagerung von Musterprofilen zur detaillierten Analyse von Unterschieden zwischen den Mustern
  • Unterschiedsdarstellungen
  • Integrierte Probenbildanzeige
  • Vergleichende Peak-Überlagerungsanzeige
  • Farbcodierte Tabellen mit numerischen Ergebnissen
  • Einfacher Qualitätsprüfungsmodus für Pass/Fail-Analysen neuer Proben durch Vergleich zu früheren Proben
  • Cluster-Validierung durch leistungsstarke statistische Prüfungen

Datenaustausch und Druckoptionen

  • Automatischer Report Writer (Export in RTF, HTML)
  • Vollautomatische Berichterstellung einschließlich Programmeinstellungen, Ergebnissen und Screenshots für grafische Ergebnisse
  • Protokolldatei mit Zeit-/Datumsstempel zur Unterstützung der Audit-Trail-Funktion
  • Vollständige Drucker- und Zwischenablagenunterstützung
  • Einfache Archivierung der Programmergebnisse in einer einzigen Datei, die zur späteren Verwendung abgespeichert werden kann

Nahtlose Integration mit