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Espectroscopia infrarroja a nanoescala

Análisis de fallos y caracterización de materiales

Una plataforma completa de ftIR a nanoescala, imágenes químicas a nanoescala y caracterización de materiales

Los grupos de análisis de fallas y caracterización de materiales dentro de las empresas industriales se centran en resolver problemas para ayudar a mejorar el desarrollo de procesos y resolver problemas relacionados con los procesos para ayudar a sus organizaciones a ahorrar costos y aumentar los ingresos.

El nanoIR3-s proporciona una plataforma completa de ftIR a nanoescala, imágenes químicas y caracterización de materiales. Combina dos técnicas complementarias de infrarrojos a nanoescala, AFM-IR y SNOM de dispersión junto con el mapeo de propiedades de materiales basados en AFM. El sistema es productivo y confiable, lo que le proporciona datos productivos en un día. Las aplicaciones incluyen:

  • Contaminantes nano-orgánicos
  • Dieléctricos LowK
  • Materiales semiconductores
  • Medios de almacenamiento de datos y diapositivas

Los nanocontaminantes orgánicos son un grave problema de desertividad para las empresas de semiconductores y almacenamiento de datos donde las técnicas de caracterización actuales tienen capacidades limitadas. El sistema nanoIR3 adquiere espectros IR a resoluciones espaciales de hasta 10 nm, lo que permite la medición de dichos defectos y otros materiales semiconductores.

Los espectros generados utilizando la técnica AFM-IR patentada de Bruker se correlacionan directamente con los espectros FTIR tradicionales, y por lo tanto son comparables a las bibliotecas FTIR estándar. Además del análisis químico, nanoIR3 proporciona información complementaria de propiedades mecánicas, eléctricas, térmicas y estructurales con resolución espacial a nanoescala.