Micro-XRF on SEM

QUANTAX Micro-XRF

Añade la posibilidad de análisis de elementos traza al SEM

XTrace Mounted on a SEM

QUANTAX Micro-XRF con la microfuente de rayos X XTrace añade la habilidad analítica de un espectrómetro de XRF completo al microscopio electrónico de barrido. El XTrace se puede conectar a un puerto inclinado libre de casi cualquier SEM. De esta forma, el usuario disfruta de las ventajas de una sensibilidad para elementos traza y la mayor profundidad de información del análisis de XRF.

El sistema de Micro-XRF para SEM fácil de usar

  • El análisis de distribución con HyperMap almacena un espectro completo para cada punto del mapa para un análisis posterior
  • Las muestras se pueden analizar con Micro-XRF y EDS sin cambiar la posición
  • Ambos métodos están integrados en una sola interfaz de usuario - ESPRIT 2.0
  • Sin interferencias con el funcionamiento normal del SEM, XTrace puede permanecer en su posición de análisis la mayor parte del tiempo.

    Un espectrómetro de Micro-XRF completo sin los costes de investición

    • Resultados analíticos comparables a los de sistemas autónomos
    • La función tiling permite el mapeado de grandes superficies
    • Filtros de radiación primaria seleccionables para suprimir picos de difracción
    • Usa la platina motorizada del SEM
    • Permite inclinar la muestra para alcanzar tamaños de punto mínimos.
    Related Information