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Microscopie à forces atomiques pour les surfaces en saphir profilées

Fourniture de fonctions sophistiquées et automatisées de métrologie et de production avec une résolution supérieure, dès aujourd'hui et pour les années à venir.

Le microscope à forces atomiques Dimension Edge™ PSS de Bruker, équipé du logiciel d'analyse métrologique AutoMET™ constitue le système idéal de nano-métrologie et de nano-inspection pour les fabricants de surfaces à DEL et d'éléments épitaxiaux. En tant que prolongement de la plate-forme Dimension Edge AFM, cet ensemble Edge PSS offre les valeurs et résolutions incroyables qui font la renommée des systèmes Dimension AFM, tout en fournissant également

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