AFM Industriel
Microscopes à Force Atomique pour la Nanométrologie et la Caractérisation Automatisées
La famille des microscopes à force atomique (AFM) Dimension® est reconnue depuis longtemps pour offrir la vitesse et les performances les plus élevées au service des applications de métrologie industrielle. Conçus spécifiquement pour les environnements de production à haut volume, les systèmes Dimension HPI et PRO offrent des mesures automatisées de nombreux modes AFM tout en garantissant la plus grande facilité d'utilisation et le plus faible coût par mesure pour le contrôle de la qualité, l'assurance qualité et l'analyse des défaillances. En utilisant les techniques de contact, de Tapping® et le mode PeakForce Tapping®, ces systèmes permettent aux utilisateurs de contrôler avec précision l'interaction entre la sonde et l'échantillon, assurant ainsi une longue durée de vie de la pointe avec des résultats de haute précision sur des milliers de mesures.
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Bruker s'associe à ses clients pour résoudre des problèmes qui touchent des applications dans le monde entier. Nous développons des technologies de nouvelle génération et aidons nos clients à choisir le système et les accessoires appropriés. Ce partenariat se poursuit par des formations et un service étendu, longtemps après la vente des outils.
Notre équipe hautement qualifiée d'ingénieurs d'assistance, de scientifiques d'application et d'experts en la matière se consacre entièrement à l'optimisation de votre productivité par le biais de services et de mises à jour du système, ainsi que d'une assistance et d'une formation aux applications.