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Littérature liée

Brochures et fiches techniques

MultiMode 8-HR - Brochure 2.0MB
MultiMode 8-HR - Brochure 763kB

Le succès de la plate-forme MultiMode® repose sur sa combinaison de résolution supérieure, de performance et de polyvalence et productivité inégalées. Le nouveau MultiMode 8-HR ™ AFM profite pleinement de ces développements pour apporter des améliorations significatives dans la vitesse d'imagerie, la résolution et les performances nanomécaniques avec PeakForce Tapping® à haute vitesse, PeakForce QNM® amélioré, le nouveau FastForce Volume ™ et la technologie exclusive de sondes Bruker.

• PeakForce Tapping - Brochure 2.7MB
Le PeakForce Tapping® exclusif de Bruker est la percée scientifique la plus importante dans la technologie du microscope à force atomique (AFM) depuis l'introduction de TappingMode ™. Il fournit une image haute résolution sans précédent, étend les mesures AFM dans une gamme d'échantillons qui n'ont pas déjà été accédés et permet uniquement une cartographie simultanée de la propriété à l'échelle nanométrique.

Environmental Control 1-ppm Turnkey Solutions - Datasheet 1.3MB

• Electrochemical Scanning Probe Microscopy - Datasheet 1.9MB
La solution de microscopie à potentiel électrochimique à balayage (SECPM) de Bruker pour les systèmes MultiMode AFM permet l'imagerie in situ ou la cartographie potentielle de la surface de l'électrode avec une résolution à l'échelle nanométrique. Il permet de nouvelles idées sur les fondamentaux électrochimiques pour l'électrodéposition, la corrosion et la recherche et le développement de la batterie, ainsi que de nombreuses autres zones d'application.

• Scanning Electrochemical Potential Microscopy 1.4MB
La solution de microscopie à potentiel électrochimique à balayage (SECPM) de Bruker pour les systèmes MultiMode AFM permet l'imagerie in situ ou la cartographie potentielle de la surface de l'électrode avec une résolution à l'échelle nanométrique. Il permet de nouvelles idées sur les fondamentaux électrochimiques pour l'électrodéposition, la corrosion et la recherche et le développement de la batterie, ainsi que de nombreuses autres zones d'application.

• Worldwide Service and Support - Brochure 2.7MB
Our highly trained team of support engineers, application scientists, and subject-matter experts are wholly dedicated to maximizing your productivity with system service and upgrades, as well as application support and training across a very wide range of disciplines.

 

 

Notes d'application

Imagerie de l'ADN à double hélice avec Microscopie de force atomique à mode TappingForce - AN-142 2.0 Mo 2.0MB
Les progrès récents de l'AFM ont rendu l'étude des structures de l'ADN plus réalisable. En particulier, la technologie exclusive PeakForce Tapping® de Bruker a permis l'imagerie à haute résolution de routine de la double hélice d'ADN à des forces d'imagerie quantifiables, sans avoir besoin de sondes spécialisées ou de modèles AFM restrictifs.

PeakForce Kelvin Probe Force Microscopy - AN140 3.5 Mo 3.5MB
La microscopie à force de sonde Kelvin (KPFM), également appelée microscopie de potentiel de surface, a trouvé de larges applications, allant des études de corrosion des alliages, des effets photovoltaïques sur les cellules solaires et des analyses de surface. KPFM, ainsi que l'AFM conducteur, ont été reconnus comme les deux outils de caractérisation électrique à l'échelle nanométrique les plus utilisés, se complétant.

 Cartographie simultanée de la propriété électrique et mécanique à l'échelle nanométrique avec force de pointe TUNA AFM - AN132 6,7 Mo 6.7MB
Cette note d'application traite des bases de PeakForce TUNA, la compare au TUNA standard basé sur le mode Contact et fournit des données démontrant les capacités uniques et les applications différenciées activées grâce à la combinaison de la mesure de conductivité PeakForce Tapping et AFM.

Cartographie quantitative des propriétés mécaniques à l'échelle nanométrique avec QGN de puissance maximale - AN128 1,3 Mo 1.3MB
Le microscope à sonde de balayage (SPM) a longtemps été reconnu comme un outil utile pour mesurer les propriétés mécaniques des matériaux. Jusqu'à récemment, il était impossible d'obtenir une cartographie véritablement significative des propriétés matérielles avec la résolution et la commodité demandées par les chercheurs de SPM. Un certain nombre d'innovations récentes en mode SPM ont visé ces limitations, et maintenant, avec la sortie de PeakForce QNM®, il est possible d'identifier les variations de matériaux sans ambiguïté et à haute résolution sur une image topographique. Cette note d'application traite des principes et des avantages du mode d'imagerie PeakForce QNM.

 Les étudiants d'état de Boise réalisent un projet d'ADN unique - CS502 2.0 Mo 2.0MB
Dans le cadre d'un projet impliquant la manipulation et le contrôle de la matière à l'échelle nanométrique, les chercheurs de l'Université d'état de Boise ont créé un logo à l'échelle nanométrique de l'ADN, et MultiMode® 8 de Bruker et Dimension FastScan® faisaient partie de l'équipe