Micro-XRF on SEM

QUANTAX Micro-XRF

La technique adaptée à l'analyse d'éléments traces montée sur un MEB

XTrace Mounted on a SEM

QUANTAX Micro-XRF, avec sa source micro-foyer à rayons X XTrace, confère au microscope électronique à balayage la capacité d'analyse d'un spectromètre Micro-XRF complet. XTrace peut être montée sur presque tous les MEB sur une bride libre et inclinée. L'utilisateur bénéficie ainsi de la sensibilité élevée et de la profondeur d'analyse de la fluorescence X.

Le système Micro-XRF convivial pour MEB

  • La fonction HyperMap enregistre un spectre complet pour chaque point de mesure pour un traitement à la volée ou a posteriori
  • Les échantillons peuvent être analysés conjointement avec Micro-XRF et l'EDS sans changement de position
  • Les deux méthodes sont intégrées dans la même interface logicielle  - ESPRIT 2.0
  • Ne perturbant pas l'utilisation du MEB, XTrace peut rester inséré dans la chambre en position d'analyse.

    Un spectromètre micro-XRF complet et abordable

    • Résultats d'analyse comparables à ceux produits par les systèmes dédiés
    • La fonction "mosaïque" permet de réaliser des cartes sur de larges champs
    • Différents filtres sont disponibles pour le rayonnement primaire afin de supprimer les pics de diffraction
    • Pilote la platine du microscope (si motorisée)
    • L'inclinaison des échantillons est possible pour réduire le spot d'analyse.