XFlash 6T-100 oval

STEM用大立体角EDS

100 mm2 の楕円形SDD素子を備えたウィンドウレスEDS検出器は、それぞれのポールピースに合わせて注意深く最適化され、大きな検出立体角を実現します。ユニークな検出素子形状と最先端のスリムライン設計により、特殊な顕微鏡に対しても検出器配置を最適化することができます。

STEMでのX線検出立体角は最大0.7 sr、取り出し角は13°に達し、原子カラムの元素マッピング[1]やアモルファスカーボン中のヘテロ原子の同定[2]などを実現します。

[1] Direct atomic scale determination of magnetic ion partition in a room temperature multiferroic material (Open Access)
Scientific Reports 7, (2017) Article number: 1737; Authors: L. Keeney et al. 

[2] Individual heteroatom identification with X-ray spectroscopy (Open Access)
Applied Physics Letter Volume 108, Issue 16, 163101 (2016); Authors: R. M. Stroud, T. C. Lovejoy, M. Falke, N. D. Bassim, G. J. Corbin, N. Dellby, P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde, and O. L. Krivanek

XFlash® 6T-100 ovalのメリット

  • 素子面積 100 mm2 、ウィンドウレス
  • 最大0.7 srの検出立体角 (TEM/STEMに依存)
  • 最大13.4°の取り出し角 (TEM/STEMに依存)
  • UHV 対応
  • X線保護シャッター
  • 非干渉冷却システム
  • 優れた低エネルギー領域性能で、軽元素ピークと重なり合う重元素のL線、M線を分析
  • ブルカーの多機能分析ソフトウェアを利用可能

XFlash® 6T-100 ovalのアプリケーション分野

TEM / STEM (収差補正含む)において以下を必要とするようなハイエンドEDS元素分析

  • 原子スケール分解能
  • 高速データ取得
  • 微量元素分析