XFlash 6T-100 oval
100 mm2 の楕円形SDD素子を備えたウィンドウレスEDS検出器は、それぞれのポールピースに合わせて注意深く最適化され、大きな検出立体角を実現します。ユニークな検出素子形状と最先端のスリムライン設計により、特殊な顕微鏡に対しても検出器配置を最適化することができます。
STEMでのX線検出立体角は最大0.7 sr、取り出し角は13°に達し、原子カラムの元素マッピング[1]やアモルファスカーボン中のヘテロ原子の同定[2]などを実現します。
[1] Direct atomic scale determination of magnetic ion partition in a room temperature multiferroic material (Open Access)
Scientific Reports 7, (2017) Article number: 1737; Authors: L. Keeney et al.
[2] Individual heteroatom identification with X-ray spectroscopy (Open Access)
Applied Physics Letter Volume 108, Issue 16, 163101 (2016); Authors: R. M. Stroud, T. C. Lovejoy, M. Falke, N. D. Bassim, G. J. Corbin, N. Dellby, P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde, and O. L. Krivanek
XFlash® 6T-100 ovalのメリット
- 素子面積 100 mm2 、ウィンドウレス
- 最大0.7 srの検出立体角 (TEM/STEMに依存)
- 最大13.4°の取り出し角 (TEM/STEMに依存)
- UHV 対応
- X線保護シャッター
- 非干渉冷却システム
- 優れた低エネルギー領域性能で、軽元素ピークと重なり合う重元素のL線、M線を分析
- ブルカーの多機能分析ソフトウェアを利用可能
XFlash® 6T-100 ovalのアプリケーション分野
TEM / STEM (収差補正含む)において以下を必要とするようなハイエンドEDS元素分析
- 原子スケール分解能
- 高速データ取得
- 微量元素分析